權(quán)利要求書(shū)： 1.利用機(jī)制砂石粉篩分裝置進(jìn)行機(jī)制砂石粉形狀分類(lèi)的方法，其特征在于：具體步驟如下：

（1）提取石粉顆粒：打開(kāi)電動(dòng)機(jī)和收集裝置開(kāi)關(guān)，將機(jī)制砂倒入滾筒篩的進(jìn)料口，機(jī)制砂通過(guò)滾筒篩，小于0.15mm的石粉顆粒落于傳送帶上，傳送帶上的石粉顆粒通過(guò)收集裝置時(shí)，小于0.075mm的機(jī)制砂顆粒在電場(chǎng)力的作用下吸附于正極板上；

（2）收集石粉顆粒：吸附完成后，取收集盒置于正極板下方，輕彈正極板，石粉顆粒落入收集盒內(nèi)完成收集，關(guān)閉電動(dòng)機(jī)與收集裝置開(kāi)關(guān)；

（3）鑒定分類(lèi)：利用電子顯微鏡對(duì)收集盒內(nèi)的是否顆粒進(jìn)行拍照觀察，對(duì)石粉顆粒形狀進(jìn)行鑒定，并歸類(lèi)；具體步驟為：

A、通過(guò)電子顯微鏡對(duì)石粉顆粒的不同位置的直徑進(jìn)行共10次測(cè)量并取平均值為H，對(duì)石粉顆粒的凸起處形成的最大直徑進(jìn)行測(cè)量得L，將最大直徑減去平均直徑得出凸起高度*

為h，并將石粉顆粒的凸起與石粉顆粒直徑平均值進(jìn)行對(duì)比，計(jì)算公式為：h=L?H；W=h/H

100%；式中：W?石粉顆粒凸起占石粉顆粒直徑平均值的百分比；L?石粉顆粒在凸起處的石粉顆粒直徑長(zhǎng)度；h?石粉顆粒凸起高度；H?石粉顆粒多次直徑平均值；

對(duì)于同一石粉顆粒內(nèi)凸起的W的最大數(shù)值，W數(shù)值小于20%時(shí)為1區(qū)，大于20%小于40%為2區(qū)，其余為3區(qū)；

B、通過(guò)電子顯微鏡對(duì)凹坑面積進(jìn)行計(jì)算：形狀規(guī)則凹坑通過(guò)測(cè)量邊對(duì)凹坑通過(guò)對(duì)應(yīng)的形狀面積計(jì)算方法進(jìn)行面積計(jì)算；對(duì)于不規(guī)則凹坑，通過(guò)電子顯微鏡對(duì)石粉顆粒不規(guī)則的凹坑的邊緣距離進(jìn)行多次測(cè)量并取平均值；將石粉顆粒通過(guò)圓形面積計(jì)算方式對(duì)石粉顆粒2

進(jìn)行面積估算，計(jì)算公式為：s=2πR ；式中：s?凹坑面積；R?不規(guī)則凹坑穿過(guò)中心點(diǎn)的兩個(gè)邊緣點(diǎn)距離的平均值；

將石粉顆粒進(jìn)行劃分，石粉顆粒劃分為若干規(guī)則形狀，對(duì)若干規(guī)則的形狀進(jìn)行面積計(jì)算并相加得出石粉顆粒面積S；將石粉顆粒凹坑面積與石粉顆粒面積進(jìn)行對(duì)比，計(jì)算公式*

為：Q=s/S 100%；式中：Q?石粉顆粒凹坑占石粉顆粒總面積的百分比；s?石粉顆粒凹坑的面積；S?石粉顆?？偯娣e；

規(guī)定對(duì)于同一石粉顆粒內(nèi)凹坑的Q的最大數(shù)值，Q數(shù)值小于20%時(shí)為a區(qū)，大于20%小于

40%為2區(qū)，其余為3區(qū)；

C、用0.5倍石粉顆粒凸起占石粉顆粒直徑百分比與0.5倍凹坑占總面積百分比之和，確定石粉顆粒的粗糙程度，計(jì)算公式為：E=0.5W+0.5Q；式中：E?石粉顆粒的粗糙程度；W?石粉顆粒凸起占石粉顆粒高度的百分比；Q?石粉顆粒凹坑占石粉顆粒總面積的百分比；

規(guī)定對(duì)于石粉顆粒的粗糙程度E，E數(shù)值小于20%為A區(qū)，大于20%小于40%為B區(qū)，其余為C區(qū)；

所述機(jī)制砂石粉篩分裝置，包括設(shè)置于傳送裝置(3)前端的篩選裝置(1)，設(shè)置于傳送裝置(3)中部側(cè)面的收集裝置(2)；

所述篩選裝置(1)為支架(1.1)頂端水平設(shè)置小顆粒收集軌道(1.2)，小顆粒收集軌道(1.2)上端安裝滾筒篩(1.3)，滾筒篩(1.3)前段設(shè)置機(jī)制砂進(jìn)料口（1.4），滾筒篩(1.3)后段出口處設(shè)置大顆粒收集軌道（1.5）；大顆粒收集軌道（1.5）入口處安裝電動(dòng)機(jī)（1.6）；

所述傳送裝置(3)為設(shè)置于滾筒篩(1.3)出口底部的上下兩面?zhèn)魉蛶В?.1），傳送帶（3.1）兩側(cè)安裝滾輪（3.2）；

所述收集裝置（2）為通過(guò)支撐架（2.1）水平設(shè)置于傳送帶（3.1）中間上方的電容器正極板（2.2），支撐架（2.1）豎向支撐桿（2.4）上間隔安裝若干負(fù)極鋁棒（2.3），負(fù)極鋁棒（2.3）與電容器正極板（2.2）平行設(shè)置，且布設(shè)于上下兩面?zhèn)魉蛶В?.1）之間的中空部位；所述電容器正極板（2.2）外接電源正極，負(fù)極鋁棒（2.3）外接電源負(fù)極；所述支撐架（2.1）為絕緣支撐架。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用機(jī)制砂石粉篩分裝置進(jìn)行機(jī)制砂石粉形狀分類(lèi)的方法，其特征在于：所述滾筒篩的孔徑為0.15mm。

說(shuō)明書(shū)： 一種機(jī)制砂石粉篩分裝置及機(jī)制砂石粉形狀分類(lèi)方法技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本發(fā)明屬于建筑用砂制備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種機(jī)制砂石粉篩分裝置及機(jī)制砂石粉形狀分類(lèi)方法。

背景技術(shù)[0002] 隨著天然砂石逐漸的禁止開(kāi)采，機(jī)制砂逐漸成為建筑用砂的選擇。機(jī)制砂指的是由機(jī)械破碎后的粒徑小于4.75mm的巖石顆粒。主要分為花崗巖制砂，鵝卵石制砂，石灰?guī)r制

砂，建筑廢料制砂等。不同的制砂原料制成的機(jī)制砂之間質(zhì)量與性能都有差別。由于機(jī)制砂

采用機(jī)械破壞產(chǎn)生，因此不可避免的會(huì)有較多的石粉產(chǎn)生。相關(guān)研究證明，石粉的數(shù)量對(duì)于

機(jī)制砂的性能影響較大，而石粉的形狀對(duì)機(jī)制砂性能影響的研究較少，是否對(duì)機(jī)制砂的性

質(zhì)有所影響，并沒(méi)有相關(guān)的實(shí)驗(yàn)及理論得以證明，對(duì)于機(jī)制砂精細(xì)化管理與應(yīng)用缺乏理論

依據(jù)，影響機(jī)制砂的科學(xué)使用。

發(fā)明內(nèi)容[0003] 本發(fā)明為了解決目前機(jī)制砂精細(xì)化管理與應(yīng)用缺乏理論依據(jù)等問(wèn)題，提供了一種機(jī)制砂石粉篩分裝置及機(jī)制砂石粉形狀分類(lèi)方法。

[0004] 本發(fā)明由如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：一種機(jī)制砂石粉篩分裝置，包括設(shè)置于傳送裝置前端的篩選裝置，設(shè)置于傳送裝置中部側(cè)面的收集裝置；

[0005] 所述篩選裝置為支架頂端水平設(shè)置小顆粒收集軌道，小顆粒收集軌道上端安裝滾筒篩，滾筒篩前段設(shè)置機(jī)制砂進(jìn)料口，滾筒篩后段出口處設(shè)置大顆粒收集軌道；大顆粒收集

軌道入口處安裝電動(dòng)機(jī)；

[0006] 所述傳送裝置為設(shè)置于滾筒篩出口底部的上下兩面?zhèn)魉蛶?，傳送帶兩?cè)安裝滾輪；

[0007] 所述收集裝置為通過(guò)支撐架水平設(shè)置于傳送帶中間上方的電容器正極板，支撐架的豎向支撐桿上間隔安裝若干負(fù)極鋁棒，負(fù)極鋁棒與電容器正極板平行設(shè)置，且布設(shè)于上

下兩面?zhèn)魉蛶еg的中空部位；所述正極板外接電源正極，負(fù)極鋁棒外接電源負(fù)極；所述支

撐架為絕緣支撐架。

[0008] 所述滾筒篩的孔徑為0.15mm。[0009] 利用2所述的機(jī)制砂石粉篩分裝置進(jìn)行機(jī)制砂石粉形狀分類(lèi)的方法，具體步驟如下：

[0010] （1）提取石粉顆粒：打開(kāi)電動(dòng)機(jī)和收集裝置開(kāi)關(guān)，將機(jī)制砂倒入滾筒篩的進(jìn)料口，機(jī)制砂通過(guò)滾筒篩，小于0.15mm的石粉顆粒落于傳送帶上，傳送帶上的石粉顆粒通過(guò)收集

裝置時(shí)，小于0.075mm的機(jī)制砂顆粒在電場(chǎng)力的作用下吸附于正極板上；

[0011] （2）收集石粉顆粒：吸附完成后，取收集盒置于正極板下方，輕彈正極板，石粉顆粒落入收集盒內(nèi)完成收集，關(guān)閉電動(dòng)機(jī)與收集裝置開(kāi)關(guān)；

[0012] （3）鑒定分類(lèi)：利用電子顯微鏡對(duì)收集盒內(nèi)的石粉顆粒進(jìn)行拍照觀察，對(duì)石粉顆粒形狀進(jìn)行鑒定，并歸類(lèi)；具體步驟為：

[0013] A、通過(guò)電子顯微鏡對(duì)石粉顆粒的不同位置的直徑進(jìn)行共10次測(cè)量并取平均值為H，對(duì)石粉顆粒的凸起處形成的最大直徑進(jìn)行測(cè)量得L，將最大直徑減去平均直徑得出凸起

高度為h，并將石粉顆粒的凸起與石粉顆粒直徑平均值進(jìn)行對(duì)比，計(jì)算公式為：h=L?H；W=h/

*

H100%；式中：W?石粉顆粒凸起占石粉顆粒直徑平均值的百分比；L?石粉顆粒在凸起處的石

粉顆粒直徑長(zhǎng)度；h?石粉顆粒凸起高度；H?石粉顆粒多次直徑平均值；

[0014] 對(duì)于同一石粉顆粒內(nèi)凸起的W的最大數(shù)值，W數(shù)值小于20%時(shí)為1區(qū)，大于20%小于40%為2區(qū)，其余為3區(qū)；

[0015] B、通過(guò)電子顯微鏡對(duì)凹坑面積進(jìn)行計(jì)算：形狀規(guī)則凹坑通過(guò)測(cè)量邊對(duì)凹坑通過(guò)對(duì)應(yīng)的形狀面積計(jì)算方法進(jìn)行面積計(jì)算；對(duì)于不規(guī)則凹坑，通過(guò)電子顯微鏡對(duì)石粉顆粒不規(guī)

則的凹坑的邊緣距離進(jìn)行多次測(cè)量并取平均值；將石粉顆粒通過(guò)圓形面積計(jì)算方式對(duì)石粉

2

顆粒進(jìn)行面積估算，計(jì)算公式為：s=2πR ；式中：s?凹坑面積；R?不規(guī)則凹坑穿過(guò)中心點(diǎn)的兩

個(gè)邊緣點(diǎn)距離的平均值；

[0016] 將石粉顆粒進(jìn)行劃分，石粉顆粒劃分為若干規(guī)則形狀，對(duì)若干規(guī)則的形狀進(jìn)行面積計(jì)算并相加得出石粉顆粒面積S；將石粉顆粒凹坑面積與石粉顆粒面積進(jìn)行對(duì)比，計(jì)算公

*

式為：Q=s/S 100%；式中：Q?石粉顆粒凹坑占石粉顆?？偯娣e的百分比；s?石粉顆粒凹坑的

面積；S?石粉顆?？偯娣e；

[0017] 規(guī)定對(duì)于同一石粉顆粒內(nèi)凹坑的Q的最大數(shù)值，Q數(shù)值小于20%時(shí)為a區(qū)，大于20%小于40%為2區(qū)，其余為3區(qū)；

[0018] C、用0.5倍石粉顆粒凸起占石粉顆粒直徑百分比與0.5倍凹坑占總面積百分比之和，確定石粉顆粒的粗糙程度，計(jì)算公式為：E=0.5W+0.5Q；式中：E?石粉顆粒的粗糙程度；W?

石粉顆粒凸起占石粉顆粒高度的百分比；Q?石粉顆粒凹坑占石粉顆?？偯娣e的百分比；

[0019] 規(guī)定對(duì)于石粉顆粒的粗糙程度E，E數(shù)值小于20%為A區(qū)，大于20%小于40%為B區(qū)，其余為C區(qū)。

[0020] 不同機(jī)制砂形成的石粉顆粒形狀均有一定程度的不同，對(duì)石粉顆粒形狀的研究，可對(duì)混凝土研究進(jìn)行細(xì)化，分析混凝土性能。本發(fā)明為石粉顆粒形狀的觀察提供了一種方

法，可以將機(jī)制砂通過(guò)石粉顆粒進(jìn)行分類(lèi)，并對(duì)其特性進(jìn)行細(xì)化規(guī)定，使不同種類(lèi)的機(jī)制砂

用于其所對(duì)應(yīng)的工程中，防止劣質(zhì)機(jī)制砂用于高要求施工時(shí)造成損失。

附圖說(shuō)明[0021] 圖1為石粉顆粒收集裝置放置于傳送帶上結(jié)構(gòu)示意圖；[0022] 圖2為篩選裝置俯視圖；[0023] 圖3為石粉顆粒收集裝置側(cè)面圖；[0024] 圖4為三個(gè)形狀不同的機(jī)制砂石粉顆粒；圖中：A為3區(qū)石粉顆粒；B為1區(qū)石粉顆粒；C為2區(qū)石粉顆粒。

[0025] 圖中：1?篩選裝置；1.1?支架；1.2?小顆粒收集軌道；1.3?滾筒篩；1.4?機(jī)制砂進(jìn)料口；1.5?大顆粒收集軌道；1.6?電動(dòng)機(jī)；2?收集裝置；2.1?支撐架；2.2?電容器正極板；2.3?

負(fù)極鋁棒；2.4?豎向支撐桿；3?傳送裝置；3.1?傳送帶；3.2?滾輪。

具體實(shí)施方式[0026] 為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明的一部分實(shí)施例，而不

是全部的實(shí)施例；基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前

提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

[0027] 如圖1所示，一種機(jī)制砂石粉篩分裝置，包括設(shè)置于傳送裝置3前端的篩選裝置1，設(shè)置于傳送裝置3中部側(cè)面的收集裝置2；

[0028] 如圖1、2所示，所述篩選裝置1為支架1.1頂端水平設(shè)置小顆粒收集軌道1.2，小顆粒收集軌道1.2上端安裝滾筒篩1.3，滾筒篩1.3前段設(shè)置機(jī)制砂進(jìn)料口1.4，滾筒篩1.3后段

出口處設(shè)置大顆粒收集軌道1.5；大顆粒收集軌道1.5入口處安裝電動(dòng)機(jī)1.6；

[0029] 如圖1所示，所述傳送裝置3為設(shè)置于滾筒篩1.3出口底部的上下兩面?zhèn)魉蛶?.1，傳送帶3.1兩側(cè)安裝滾輪3.2；上下兩面?zhèn)魉蛶?.1之間無(wú)物體阻礙；

[0030] 如圖1、3所示，所述收集裝置2為通過(guò)支撐架2.1水平設(shè)置于傳送帶3.1中間上方的電容器正極板2.2，支撐架2.1的豎向支撐桿2.4上間隔安裝若干負(fù)極鋁棒2.3，負(fù)極鋁棒2.3

與電容器正極板2.2平行設(shè)置，且布設(shè)于上下兩面?zhèn)魉蛶?.1之間的中空部位；所述電容器

正極板2.2外接電源正極，負(fù)極鋁棒2.3外接電源負(fù)極；所述支撐架2.1為絕緣支撐架，用于

支撐裝置。

[0031] 所述滾筒篩的孔徑為0.15mm。[0032] 安裝時(shí)，將篩選裝置1放置于傳送帶3.1前端，小顆粒收集軌道1.2對(duì)準(zhǔn)傳送帶3.1。將石粉收集裝置2放置于傳送帶3.1側(cè)面，將電容器正極板2.2放置于傳送帶3.1上方。負(fù)極

鋁棒2.3放置于兩面?zhèn)魉蛶?.1之間。

[0033] 利用所述的機(jī)制砂石粉篩分裝置進(jìn)行機(jī)制砂石粉形狀分類(lèi)的方法，具體步驟如下：

[0034] （1）提取石粉顆粒：打開(kāi)電動(dòng)機(jī)和收集裝置開(kāi)關(guān)，將機(jī)制砂倒入滾筒篩的進(jìn)料口，機(jī)制砂通過(guò)滾筒篩，小于0.15mm的石粉顆粒落于傳送帶上，傳送帶上的石粉顆粒通過(guò)收集

裝置時(shí)，小于0.075mm的機(jī)制砂顆粒在電場(chǎng)力的作用下吸附于正極板上；

[0035] （2）收集石粉顆粒：吸附完成后，取收集盒置于正極板下方，輕彈正極板，石粉顆粒落入收集盒內(nèi)完成收集，關(guān)閉電動(dòng)機(jī)與收集裝置開(kāi)關(guān)；

[0036] （3）鑒定分類(lèi)：利用電子顯微鏡對(duì)收集盒內(nèi)的是否顆粒進(jìn)行拍照觀察，對(duì)石粉顆粒形狀進(jìn)行鑒定，并歸類(lèi)；具體步驟為：

[0037] A、通過(guò)電子顯微鏡對(duì)石粉顆粒的不同位置的直徑進(jìn)行共10次測(cè)量并取平均值為H，對(duì)石粉顆粒的凸起處形成的最大直徑進(jìn)行測(cè)量得L，將最大直徑減去平均直徑得出凸起

高度為h，并將石粉顆粒的凸起與石粉顆粒直徑平均值進(jìn)行對(duì)比，計(jì)算公式為：h=L?H；W=h/

*

H100%；式中：W?石粉顆粒凸起占石粉顆粒直徑平均值的百分比；L?石粉顆粒在凸起處的石

粉顆粒直徑長(zhǎng)度；h?石粉顆粒凸起高度；H?石粉顆粒多次直徑平均值；

[0038] 對(duì)于同一石粉顆粒內(nèi)凸起的W的最大數(shù)值，W數(shù)值小于20%時(shí)為1區(qū)，大于20%小于40%為2區(qū)，其余為3區(qū)；

[0039] B、通過(guò)電子顯微鏡對(duì)凹坑面積進(jìn)行計(jì)算：形狀規(guī)則凹坑通過(guò)測(cè)量邊對(duì)凹坑通過(guò)對(duì)應(yīng)的形狀面積計(jì)算方法進(jìn)行面積計(jì)算；對(duì)于不規(guī)則凹坑，通過(guò)電子顯微鏡對(duì)石粉顆粒不規(guī)

則的凹坑的邊緣距離進(jìn)行多次測(cè)量并取平均值；將石粉顆粒通過(guò)圓形面積計(jì)算方式對(duì)石粉

2

顆粒進(jìn)行面積估算，計(jì)算公式為：s=2πR ；式中：s?凹坑面積；R?不規(guī)則凹坑穿過(guò)中心點(diǎn)的兩

個(gè)邊緣點(diǎn)距離的平均值；

[0040] 將石粉顆粒進(jìn)行劃分，石粉顆粒劃分為若干規(guī)則形狀，對(duì)若干規(guī)則的形狀進(jìn)行面積計(jì)算并相加得出石粉顆粒面積S；將石粉顆粒凹坑面積與石粉顆粒面積進(jìn)行對(duì)比，計(jì)算公

*

式為：Q=s/S 100%；式中：Q?石粉顆粒凹坑占石粉顆粒總面積的百分比；s?石粉顆粒凹坑的

面積；S?石粉顆?？偯娣e；

[0041] 規(guī)定對(duì)于同一石粉顆粒內(nèi)凹坑的Q的最大數(shù)值，Q數(shù)值小于20%時(shí)為a區(qū)，大于20%小于40%為b區(qū)，其余為c區(qū)；

[0042] C、用0.5倍石粉顆粒凸起占石粉顆粒直徑百分比與0.5倍凹坑占總面積百分比之和，確定石粉顆粒的粗糙程度，計(jì)算公式為：E=0.5W+0.5Q；式中：E?石粉顆粒的粗糙程度；W?

石粉顆粒凸起占石粉顆粒高度的百分比；Q?石粉顆粒凹坑占石粉顆?？偯娣e的百分比；

[0043] 規(guī)定對(duì)于石粉顆粒的粗糙程度E，E數(shù)值小于20%為A區(qū)，大于20%小于40%為B區(qū)，其余為C區(qū)。

[0044] 通過(guò)設(shè)計(jì)機(jī)制砂石粉收集裝置提取石粉，然后通過(guò)電子顯微鏡對(duì)機(jī)制砂石粉形狀的描述分類(lèi)，對(duì)不同形狀的機(jī)制砂石粉進(jìn)行更加細(xì)致的分類(lèi)，使工程用砂石的選用更加科

學(xué)。

[0045] 提取石粉顆粒時(shí)，可通過(guò)靜電方法進(jìn)行提取，通過(guò)設(shè)計(jì)一種篩選裝置與一種收集裝置，通過(guò)篩選裝置將較小顆粒的機(jī)制砂篩選出來(lái)，再將較小顆粒中得石粉顆粒通過(guò)靜電

吸附于裝置上以此進(jìn)行收集。

[0046] 篩選裝置將機(jī)制砂通過(guò)滾筒篩篩選，使較小顆粒的機(jī)制砂落于傳送帶上，大顆粒機(jī)制砂通過(guò)軌道落于別處以做它用。篩選裝置包括0.15mm孔徑滾筒篩、電動(dòng)機(jī)、支架與收

集軌道。電動(dòng)機(jī)放置于滾筒篩出口處的大顆粒機(jī)制砂收集軌道上，用于使?jié)L筒篩自動(dòng)滾動(dòng)

對(duì)機(jī)制砂進(jìn)行篩選。滾筒篩向出口處向下傾斜一定角度，使機(jī)制砂在滾筒篩中可通過(guò)重力

移動(dòng)至出口。篩選裝置的收集軌道分為大顆粒收集軌道與小顆粒收集軌道。大顆粒收集軌

道位于滾筒篩出口處，具有一定的傾斜角度，用于將大顆粒的機(jī)制砂通過(guò)軌道收集并落于

別處，便于之后的石粉收集。小顆粒收集裝置位于滾筒篩下端且出口為與傳送帶上方，用于

收集滾筒篩篩選出的小顆粒機(jī)制砂并使其落于傳送帶上進(jìn)行石粉顆粒的收集。

[0047] 石粉收集裝置通過(guò)電路形成的高電壓將石粉上的石粉顆粒通過(guò)電場(chǎng)作用使石粉吸附于裝置上完成收集。石粉收集裝置包括形成電容器的正負(fù)極、高壓電路與支撐裝置的

腳架。通過(guò)調(diào)節(jié)位于正負(fù)極之間的裝置主體中的高壓電路，使正負(fù)極形成一定強(qiáng)度的電場(chǎng)，

電場(chǎng)強(qiáng)度形成的吸附力可將小于0.075mm的石粉顆粒吸附于裝置的鋁制正極板上。裝置上

的腳架使裝置放置于傳送帶側(cè)面時(shí)可保持裝置的平衡。石粉收集裝置可從側(cè)面放置于傳送

帶上，將裝置上方的鋁制正極放置于傳送帶上方，裝置中由鋁棒制成的負(fù)極位于傳送帶中

間。通過(guò)鋁棒與鋁制正極板之間形成的電場(chǎng)將小于0.075mm的石粉顆粒吸附于正極板上。

收取時(shí)，將收集石粉顆粒的盒子放與正極板下方，輕彈正極板使石粉顆粒掉落與盒子之中

完成收集。

[0048] 提取適量不同種類(lèi)的機(jī)制砂的石粉顆粒，放置在電子顯微鏡上進(jìn)行放大觀察，對(duì)放大的石粉顆粒進(jìn)行拍照，通過(guò)圖片對(duì)石粉顆粒的形狀進(jìn)行定義并分類(lèi)。

[0049] 規(guī)定對(duì)于同一石粉顆粒內(nèi)凸起與石粉顆粒多次直徑平均值的比值W的最大數(shù)值，W數(shù)值小于20%時(shí)為1區(qū)，大于20%小于40%為2區(qū)，其余為3區(qū)。

[0050] 規(guī)定對(duì)于同一石粉顆粒內(nèi)凹坑面積與石粉顆?？偯娣e的比值Q的最大數(shù)值，Q數(shù)值小于20%時(shí)為a區(qū)，大于20%小于40%為2區(qū)，其余為3區(qū)。

[0051] 通過(guò)0.5倍石粉顆粒凸起占高度比值W與0.5倍凹坑占面積比值Q之和規(guī)定對(duì)于石粉顆粒的粗糙程度E，E數(shù)值小于20%為A區(qū)，大于20%小于40%為B區(qū)，其余為C區(qū)。

[0052] 圖4為三個(gè)形狀不同的機(jī)制砂石粉顆粒，可通過(guò)本發(fā)明方法對(duì)機(jī)制砂石粉形狀進(jìn)行定義。通過(guò)測(cè)量得出同種三個(gè)石粉顆粒不同位置的十次直徑，得出其平均直徑分別為

*

79.4um、33.2um、49.6um，通過(guò)公式h=L?H；W=h/H100%對(duì)石粉顆粒的凸起程度進(jìn)行計(jì)算得出

分別為51.88%、17.96%、34.53%。因此圖1石粉顆粒為3區(qū)，圖2石粉顆粒為1區(qū)，圖3石粉顆粒

為2區(qū)。

[0053] 對(duì)三個(gè)石粉顆粒進(jìn)行面積測(cè)量得出其總面積分別為6.43*10?5mm2、9.56*10?62 ?6 2 ?6 2 ?6

mm、7.61*10 mm ，通過(guò)測(cè)量與計(jì)算得出石粉顆粒凹陷部位面接為7.5*10 mm、2.83*10

2 ?7 2 *

mm 、4.35*10 mm ，通過(guò)公式Q=s/S 100%對(duì)石粉顆粒的凹坑程度進(jìn)行計(jì)算得出11.67%、

29.57%、5.71%。因此圖1石粉顆粒為a區(qū)，圖2石粉顆粒為b區(qū)，圖3石粉顆粒為a區(qū)。

[0054] 通過(guò)公式E=0.5W+0.5Q得出石粉顆粒粗糙程度為31.78%、23.76%、20.12%。因此三個(gè)石粉顆粒均為B區(qū)。

[0055] 在大多文獻(xiàn)中，均僅僅對(duì)機(jī)制砂顆粒的形狀與石粉在機(jī)制砂中的含量進(jìn)行研究，以此判斷機(jī)制砂對(duì)工程的影響，例如《石粉對(duì)機(jī)制砂及其砂漿和混凝土性能影響研究》中僅

對(duì)機(jī)制砂進(jìn)行圓形度的分類(lèi)，對(duì)機(jī)制砂中石粉含量進(jìn)行研究。本發(fā)明通過(guò)對(duì)機(jī)制砂石粉形

狀進(jìn)行更加細(xì)致的劃分，使石粉不僅通過(guò)機(jī)制砂石粉顆粒的圓形度進(jìn)行劃分，同時(shí)在此基

礎(chǔ)上增加了機(jī)制砂石粉的凹陷與粗糙程度等方式，使機(jī)制砂石粉的分類(lèi)更加詳細(xì)。不同工

程所用機(jī)制砂更加規(guī)范，防止因材料性能較差引起的事故。

[0056] 最后應(yīng)說(shuō)明的是：以上各實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述各實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解：其依

然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)

行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)

方案的范圍。