本發(fā)明涉及一種適用于礦物學(xué)參數(shù)自動測量系統(tǒng)的樣品制樣方法,屬于制樣方法。采用的是礦樣混合樹脂膠進(jìn)行冷嵌的方法,第一次冷嵌完成的樹脂光片再剖切出橫截面進(jìn)行二次樹脂鑲嵌法,經(jīng)過二次鑲嵌后的樹脂光片通過粗磨、細(xì)磨、精磨、拋光及表面導(dǎo)電處理后,制作成表面磨光面好,礦物代表性全面及具有良好導(dǎo)電性的礦物樣品光片。本發(fā)明利用混合樹脂膠二次冷嵌的方法所制做的樣品具有分散性好,清晰易觀察,礦物種類涵蓋全面,代表性強(qiáng)等特點(diǎn),且制樣過程簡單易操作,實(shí)用性強(qiáng),應(yīng)用廣泛,制作的光片可適用于自動礦物學(xué)測量系統(tǒng)檢測,也適用于電子探針、掃描電鏡及金相顯微鏡下檢測。
聲明:
“適用于礦物學(xué)參數(shù)自動測量系統(tǒng)的樣品制樣方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)