本發(fā)明公開了一種多級壓縮率可調(diào)靜密封測試實驗裝置,包括:泄漏檢測口、密封端蓋、實驗箱體、介質(zhì)入口、介質(zhì)出口、測試密封圈一、測試密封圈二、測試密封圈三、氣體傳感器、外密封。實驗箱體固定在工作臺上,密封端蓋與實驗箱體固定連接。密封端蓋錐面處開有多個密封溝槽,以實現(xiàn)不同外圈直徑、截面尺寸的單道密封圈及雙道、多道O型圈等多級密封的密封性能測試。通過更換密封端蓋與箱體間的墊圈調(diào)節(jié)兩者間距離以實現(xiàn)不同預(yù)壓縮率下的密封性能檢測。
聲明:
“一種多級壓縮率可調(diào)靜密封測試實驗裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)