本發(fā)明涉及一種用于確定分析物(100)中帶電顆粒濃度的方法,所述方法包括以下步驟:i)確定表面電勢(shì)對(duì)界面溫度曲線(c1、c2、c3、c4)的至少兩個(gè)測(cè)量點(diǎn),其中從所述第一離子敏感電介質(zhì)(Fsd)和分析物(100)之間的第一界面和第二離子敏感電介質(zhì)(Ssd)和分析物(100)之間的第二界面之間的溫度差來(lái)獲得所述界面溫度,并且從其上分別設(shè)置了所述第一離子敏感電介質(zhì)(Fsd)和第二離子敏感電介質(zhì)(Ssd)的第一電極(Fe)和第二電極(Se)之間的電勢(shì)差來(lái)獲得所述表面電勢(shì);以及ii)根據(jù)所述曲線(c1、c2、c3、c4)的至少兩個(gè)測(cè)量點(diǎn)的位置來(lái)計(jì)算所述帶電顆粒濃度。仍然是電勢(shì)
電化學(xué)測(cè)量方法的這種方法使用了分析物中的離子敏感電介質(zhì)的表面電勢(shì)的溫度依賴(lài)性。本發(fā)明還提出了一種電化學(xué)傳感器,用于確定分析物中的帶電顆粒濃度。本發(fā)明還提出了可以用于確定帶電顆粒濃度的各種傳感器,即EGFET和EIS電容器。
聲明:
“無(wú)需參考電極的電化學(xué)電勢(shì)感測(cè)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)