本發(fā)明提供一種質(zhì)子交換膜高溫電導(dǎo)率的測試裝置和方法。所述測試裝置包括兩個支架、兩個電極和用于測量阻抗的
電化學(xué)工作站,所述兩個支架通過連接構(gòu)件相互連接,其中一個用于支撐待測的質(zhì)子交換膜,并且其中另一個用于固定所述兩個電極,所述兩個電極的一端與待測的質(zhì)子交換膜接觸,而另一端與所述電化學(xué)工作站電連接,其特征在于,所述測試裝置還包括:密閉容器,其中容納所述兩個支架、所述待測的質(zhì)子交換膜、所述兩個電極以及水,以在加熱時將所述待測的質(zhì)子交換膜置于測試溫度和飽和濕度下的水蒸汽中;用于加熱所述密閉容器的加熱器;和用于測量所述待測的質(zhì)子交換膜的測試溫度的熱電偶。
聲明:
“質(zhì)子交換膜高溫電導(dǎo)率的測試裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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