本申請(qǐng)公開了一種無損檢測(cè)的方法和系統(tǒng),其中本申請(qǐng)公開的無損檢測(cè)方法(100)包括非接觸地確定無損檢測(cè)探頭(30)的位置(101)以及識(shí)別在測(cè)試結(jié)構(gòu)(20)上由探頭(30)獲取測(cè)試數(shù)據(jù)的的位置。確定可以包括使用一個(gè)或多個(gè)電子相機(jī)捕獲探頭(30)和測(cè)試結(jié)構(gòu)(20)的位置。識(shí)別可以包括使所獲取的測(cè)試數(shù)據(jù)與探頭(30)相對(duì)于測(cè)試結(jié)構(gòu)(20)的位置關(guān)聯(lián)(104)。此外,方法可以包括可視化(106)與所識(shí)別的位置(104)相關(guān)的測(cè)試數(shù)據(jù)。本申請(qǐng)公開的無損檢測(cè)系統(tǒng)(10)包括探頭(30)、一個(gè)或多個(gè)電子相機(jī)、計(jì)算機(jī)(44)以及顯示器(42),其共同被配置為確定探頭(30)的位置(101),通過探頭(30)獲取測(cè)試數(shù)據(jù),識(shí)別測(cè)試結(jié)構(gòu)(20)上與測(cè)試數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)的位置,以及可視化(106)與測(cè)試結(jié)構(gòu)(20)相關(guān)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
聲明:
“無損檢測(cè)的方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)