本發(fā)明公開的一種用于球面板材缺陷檢測的半柔性陣列式電磁超聲探頭,屬于超聲無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。包括支撐框架和若干電磁探頭單體;若干電磁探頭單體陣列排布在支撐框架內(nèi),支撐框架形狀可調(diào),相鄰電磁探頭單體之間通過第一彈性連接體連接,所述陣列邊緣的電磁探頭單體通過第二彈性連接體與支撐框架連接;所有電磁探頭單體均連接至電磁超聲檢測系統(tǒng)。本發(fā)明能夠解決傳統(tǒng)電磁超聲探頭檢測非平面構(gòu)件效果不理想的缺點,同時能夠大幅提高檢測效率,具有良好的通用性。
聲明:
“用于球面板材缺陷檢測的半柔性陣列式電磁超聲探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)