本申請(qǐng)涉及一種核心數(shù)量的檢測(cè)系統(tǒng)及方法，核心數(shù)量的檢測(cè)系統(tǒng)包括：測(cè)試板，測(cè)試板上設(shè)有片上系統(tǒng)芯片，測(cè)試板用于控制片上系統(tǒng)芯片運(yùn)行測(cè)試程序以進(jìn)行多次循環(huán)計(jì)算，并在每次循環(huán)計(jì)算開(kāi)始時(shí)生成啟動(dòng)計(jì)時(shí)信號(hào)，在每次循環(huán)計(jì)算結(jié)束時(shí)生成對(duì)應(yīng)的結(jié)束計(jì)時(shí)信號(hào)；現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門(mén)陣列裝置，與測(cè)試板連接，用于基于啟動(dòng)計(jì)時(shí)信號(hào)和對(duì)應(yīng)的結(jié)束計(jì)時(shí)信號(hào)得到每次進(jìn)行循環(huán)計(jì)算的計(jì)時(shí)結(jié)果，并根據(jù)循環(huán)計(jì)算的次數(shù)、各計(jì)時(shí)結(jié)果和核心數(shù)量判定條件對(duì)片上系統(tǒng)芯片的核心數(shù)量進(jìn)行判定。由于本申請(qǐng)無(wú)需對(duì)片上系統(tǒng)芯片進(jìn)行破壞性處理，經(jīng)檢測(cè)后的片上系統(tǒng)芯片仍能繼續(xù)使用，從而能夠?qū)崿F(xiàn)無(wú)損檢測(cè)。