一種細(xì)胞內(nèi)多量子點(diǎn)三維定位及重構(gòu)方法,先由激光照射細(xì)胞內(nèi)的多量子點(diǎn),量子點(diǎn)受激發(fā)出的熒光由顯微鏡物鏡放大成像,通過光濾波器后,經(jīng)過第一凸透鏡成為平行光,再通過預(yù)先設(shè)定有特定高斯?拉蓋爾模式調(diào)制函數(shù)的相位調(diào)制器,調(diào)制為雙螺旋點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù),經(jīng)過第二凸透鏡聚焦后,進(jìn)入EMCCD探測器生成螺旋雙光斑圖像;通過控制位移臺升降調(diào)整載物臺的軸向位置,重復(fù)能夠探測不同聚焦平面上量子點(diǎn)的三維信息;EMCCD探測器所得圖像儲存于工作站中,先構(gòu)成量子點(diǎn)的三維相對坐標(biāo);再建立絕對直角坐標(biāo)系,將相對坐標(biāo)值轉(zhuǎn)為絕對坐標(biāo)值;對量子點(diǎn)三維空間模型進(jìn)行重構(gòu)獲得所測細(xì)胞內(nèi)多量子點(diǎn)的三維圖像;本發(fā)明實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)、無損地對細(xì)胞內(nèi)量子點(diǎn)空間分布進(jìn)行測量。
聲明:
“細(xì)胞內(nèi)多量子點(diǎn)三維定位及重構(gòu)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)