本公開提供了一種產(chǎn)品失效知識庫建立方法與產(chǎn)品失效分析方法、裝置、設備、介質,屬于計算機技術領域。該產(chǎn)品失效知識庫建立方法包括:獲取多組失效產(chǎn)品數(shù)據(jù),包括設計數(shù)據(jù)、工藝數(shù)據(jù)與缺陷數(shù)據(jù);根據(jù)設計數(shù)據(jù)和/或工藝數(shù)據(jù)對失效產(chǎn)品數(shù)據(jù)進行聚類,得到多個失效類別;分別對各失效類別的缺陷數(shù)據(jù)進行隨機性檢驗,以確定失效類別為隨機失效模式或非隨機失效模式;對各非隨機失效模式的失效產(chǎn)品數(shù)據(jù)進行關聯(lián)規(guī)則挖掘,得到各非隨機失效模式的失效根因數(shù)據(jù);根據(jù)各失效類別的隨機失效模式/非隨機失效模式分類結果與各非隨機失效模式的失效根因數(shù)據(jù),建立產(chǎn)品失效知識庫。本公開可以實現(xiàn)對未知失效模式的分析,并提高分析效率。
聲明:
“產(chǎn)品失效知識庫建立方法與失效分析方法、裝置、介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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