久久看看永久视频,日日狠狠久久偷偷色,亚洲中文字幕在线网,午夜福利院中文字幕

  • <dfn id="vuqxj"><td id="vuqxj"></td></dfn>
  • <dfn id="vuqxj"></dfn>

    1. <div id="vuqxj"><option id="vuqxj"><b id="vuqxj"></b></option></div>
    2. 合肥金星智控科技股份有限公司
      宣傳

      位置:中冶有色 >

      有色技術頻道 >

      > 失效分析技術

      > 封裝芯片失效分析樣品的制備方法

      封裝芯片失效分析樣品的制備方法

      1069   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網(wǎng)  
      2023-03-19 08:59:30
      本發(fā)明公開了一種封裝芯片失效分析樣品的制備方法,其包括如下步驟:步驟一,提供待分析封裝芯片;步驟二,采用丙酮浸泡待分析封裝芯片,拆除散熱蓋并擦除晶粒表面的散熱膠;步驟三,將多塊第一硅片粘接在基板臨近晶粒的位置;步驟四,在晶粒頂面粘接固定蓋玻片;步驟五,進行混合膠冷埋鑲嵌,使得待分析封裝芯片固化在透明環(huán)氧樹脂內(nèi)部;步驟六,研磨基板底面,使得基板減薄以接近晶粒,并將第二硅片粘接在基板底面;步驟七,沿晶粒側(cè)面研磨第一硅片至待觀察的芯片位置,得到封裝芯片失效分析樣品。其能夠避免截面研磨過程中因外部應力的引入導致的芯片結(jié)構(gòu)破壞,提高制樣成功率并保持晶粒的原有狀態(tài),保障了后續(xù)截面形貌觀察的效果。
      聲明:
      “封裝芯片失效分析樣品的制備方法” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
      我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
      分享 0
               
      舉報 0
      收藏 0
      反對 0
      點贊 0
      標簽:
      失效分析
      全國熱門有色金屬技術推薦
      展開更多 +

       

      中冶有色技術平臺微信公眾號
      了解更多信息請您掃碼關注官方微信
      中冶有色技術平臺微信公眾號中冶有色技術平臺

      最新更新技術

      報名參會
      更多+

      報告下載

      第二屆中國微細粒礦物選礦技術大會
      推廣

      熱門技術
      更多+

      衡水宏運壓濾機有限公司
      宣傳
      環(huán)磨科技控股(集團)有限公司
      宣傳

      發(fā)布

      在線客服

      公眾號

      電話

      頂部
      咨詢電話:
      010-88793500-807
      專利人/作者信息登記