本發(fā)明公開了一種含復(fù)雜缺陷材料失效參數(shù)的測定方法,首先制備材料試件,然后對試件表面進(jìn)行拋光處理,將每個(gè)試件表面用兩種色差的消反光漆噴涂成散斑狀態(tài);接著利用力學(xué)試驗(yàn)機(jī)對每個(gè)試件兩端進(jìn)行拉伸加載,直到試件完全斷裂為止;然后使用3D-DIC光學(xué)測量設(shè)備對加載過程進(jìn)行圖像記錄,得到每個(gè)試件全程加載的位移場分布;選取任意包圍所有缺陷的閉合積分路徑,利用M積分的定義式得到M積分的值:最后計(jì)算試樣失效參數(shù):Π=ME/(σ2AD);材料復(fù)雜缺陷的失效準(zhǔn)則定義為:Π≥ΠC,計(jì)算的Π參數(shù),當(dāng)它達(dá)到臨界值ΠC時(shí),代表著缺陷開始失穩(wěn)擴(kuò)展。
聲明:
“含復(fù)雜缺陷材料失效參數(shù)的測定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)