本發(fā)明公開了一種射頻功率管的測(cè)試方法,其包括:烘烤射頻功率管;測(cè)試每一射頻功率管的靜態(tài)阻值;對(duì)每一射頻功率管進(jìn)行無焊接射頻參數(shù)測(cè)試;按配對(duì)電壓和配對(duì)增益,將所述射頻功率管進(jìn)行分類。本發(fā)明提供的射頻功率管的測(cè)試方法,在射頻功率管與PCB焊接前先行檢驗(yàn)功率管阻抗是否符合要求,并按照功率管的增益及閾值開啟電壓進(jìn)行精細(xì)分類,使功率管的參數(shù)更加符合新型DOHERTY功率放大器技術(shù)的需求,充分發(fā)揮功率管性能,提高射頻功率放大器可靠性及穩(wěn)定性,降低功率管的失效率,改善生產(chǎn)過程中的不良率。
聲明:
“射頻功率管的測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)