本發(fā)明公開了一種電子直線加速器靶組件的可靠性測試設備及方法,包括與每個電子直線加速器一一對應連接的監(jiān)測裝置,監(jiān)測裝置用于對相應的電子直線加速器中的靶組件的運行狀態(tài)進行監(jiān)測,獲取靶組件的運行參數(shù);輸入端與各個監(jiān)測裝置的輸出端連接的處理器,用于輸出與靶組件中的各組件結構分別對應的失效率。本發(fā)明通過對每個電子直線加速器中的靶組件的運行狀態(tài)進行監(jiān)測,并通過處理器得到靶組件中的各組件結構分別對應的失效率,以便于工作人員根據(jù)個組件結構的失效率確定出待優(yōu)化組件結構,并為后期靶組件的生產(chǎn)及質(zhì)量的提高提供依據(jù)。
聲明:
“電子直線加速器靶組件的可靠性測試設備及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)