本發(fā)明公開了一種配電變壓器非拆解繞組線圈材質(zhì)無損鑒別方法,它根據(jù)銅、鋼、鋁對(duì)X射線的衰減系數(shù)的區(qū)別,利用X射線對(duì)非拆解狀態(tài)下的配電變壓器進(jìn)行拍照,使用黑白密度計(jì)對(duì)拍照的射線底片黑度測(cè)量,將測(cè)量的黑度值輸入計(jì)算機(jī),使用工業(yè)射線膠片特性曲線,經(jīng)過與儲(chǔ)存在計(jì)算機(jī)中的不同X射線管電壓銅、鋼、鋁X射線衰減系數(shù)—透照厚度曲線進(jìn)行計(jì)算、比對(duì),判別出配電變壓器的繞組線圈為鋁或銅。
本發(fā)明公開了干式三相配電變壓器非拆解繞組線圈材質(zhì)無損鑒別方法,它根據(jù)銅、鋼、鋁對(duì)X射線的衰減系數(shù)的區(qū)別,利用X射線對(duì)非拆解狀態(tài)下的干式三相配電變壓器進(jìn)行拍照,使用黑白密度計(jì)對(duì)拍照的射線底片黑度測(cè)量,將測(cè)量的黑度值輸入計(jì)算機(jī),使用工業(yè)射線膠片特性曲線,經(jīng)過與儲(chǔ)存在計(jì)算機(jī)中的不同X射線管電壓銅、鋼、鋁X射線衰減系數(shù)—透照厚度曲線進(jìn)行計(jì)算、比對(duì),判別出干式三相配電變壓器的繞組線圈為鋁或銅。
本實(shí)用新型公開了一種長軸深井泵軸套無損拆裝工具,包括擋塊、活動(dòng)支架、螺桿、調(diào)節(jié)螺母、軸套、軸套基座,所述擋塊放置在軸套一側(cè),擋塊上設(shè)有連接座,連接座通過螺紋與螺桿一端連接,螺桿另一端從軸套中穿過,并穿過活動(dòng)支架上部,并通過調(diào)節(jié)螺母與軸套連接,所述活動(dòng)支架的下部頂在軸套基座上部,所述擋塊與軸套之間設(shè)有墊塊A,擋塊外周設(shè)有多個(gè)墊塊B。本實(shí)用新型的調(diào)節(jié)螺母可以通過長扳手轉(zhuǎn)動(dòng),利用力學(xué)中的杠桿原理,通過最省力的方法,實(shí)現(xiàn)軸套的拆裝操作,保證在預(yù)定工期內(nèi)完成檢修任務(wù),減少工作人員受傷風(fēng)險(xiǎn),且擋塊上設(shè)有墊塊A和墊塊B,確保設(shè)備拆裝不受損壞,從而達(dá)到深井泵檢修的目的。
本發(fā)明公開了一種快速確定月球玻璃類型的無損分析方法,所述方法包含有如下步驟:一、利用顯微拉曼光譜儀采集月球玻璃的拉曼光譜;二、分析拉曼光譜在400–600cm?1拉曼位移范圍內(nèi)的拉曼峰位置(RPP400–600)即可進(jìn)行月球玻璃類型的判別。它是一種用于實(shí)驗(yàn)室無損、快速及低成本的月球玻璃類型判別方法,該方法通過采用拉曼光譜可以較好的對(duì)月球玻璃進(jìn)行區(qū)分,不會(huì)對(duì)樣品造成破壞和污染,不僅是我國嫦娥五號(hào)返回月壤樣品實(shí)驗(yàn)室分析研究的技術(shù)基礎(chǔ),也能為未來月球樣品拉曼數(shù)據(jù)解釋、月球探測(cè)載荷設(shè)計(jì)等提供支撐,可實(shí)現(xiàn)不同類型月球玻璃的無損、無污染、高效、低成本準(zhǔn)確識(shí)別。
本發(fā)明公開了一種基于光纖光譜技術(shù)的蘋果表面早期損傷快速無損識(shí)別方法,該方法包括以下步驟:收集完好無損和表面有輕微損傷蘋果樣本隨機(jī)分配,建立校正樣本集和檢驗(yàn)樣本集;利用光譜采集系統(tǒng)采集校正樣本集和檢驗(yàn)樣本集中蘋果樣本的光譜反射率,得到校正和檢驗(yàn)樣本集原始光譜數(shù)據(jù);采用標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)變換(SNV)對(duì)原始光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,并利用主成分分析方法對(duì)預(yù)處理后的光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行降維,以提取能反映蘋果表面早期損傷的特征光譜,建立校正和檢驗(yàn)樣本集特征數(shù)據(jù)庫;最后,利用簡化的K最近鄰(SKNN)模式識(shí)別方法,建立蘋果表面早期損傷的識(shí)別模型。本發(fā)明基于光纖光譜技術(shù)結(jié)合化學(xué)計(jì)量學(xué),可快速、無損識(shí)別出表面有輕微損傷的蘋果。
本發(fā)明公開了一種基于高光譜成像技術(shù)的蘋果表面缺陷快速無損識(shí)別方法,該方法包括以下步驟:收集完好無損和表面有缺陷蘋果樣本隨機(jī)分配,建立校正樣本集和檢驗(yàn)樣本集;利用高光譜圖像采集系統(tǒng)采集校正和檢驗(yàn)樣本集蘋果樣本的高光譜圖像;對(duì)高光譜圖像進(jìn)行黑白校正,并通過掩膜處理以消除背景,使圖像中僅含蘋果。然后,分別提取蘋果正常區(qū)域以及表面有缺陷區(qū)域的平均光譜,并采用多元散射校正(MSC)對(duì)原始光譜進(jìn)行預(yù)處理,得到校正和檢驗(yàn)樣本集光譜數(shù)據(jù)。最后,利用偏最小二乘判別分析方法結(jié)合化學(xué)計(jì)量學(xué),建立蘋果表面缺陷的識(shí)別模型。本發(fā)明通過高光譜成像技術(shù)可快速、無損地識(shí)別出表面有缺陷的蘋果。
本發(fā)明公開了一種基于陸生野生動(dòng)物監(jiān)測(cè)的高效無損傷智能捕捉設(shè)備,其包括:隱藏架、捕捉夾、觸壓件、連接彈簧、側(cè)彈射裝置以及麻醉注射組件,所述隱藏架橫向架鋪在地面上,且其上端通過扭簧可相對(duì)偏轉(zhuǎn)的對(duì)稱設(shè)置有捕捉夾,且所述隱藏架上通過連接彈簧架設(shè)有觸壓件,所述觸壓件與所述捕捉夾相抵靠接觸;所述隱藏架的一側(cè)水平固定有側(cè)彈射裝置,所述側(cè)彈射裝置上滑動(dòng)安裝有麻醉注射組件,且所述側(cè)彈射裝置的上端面一側(cè)還設(shè)有導(dǎo)向曲度調(diào)節(jié)裝置。
一種無損平面芯片電感測(cè)試組件及其制作方法,屬于電子元器件測(cè)試領(lǐng)域。所述測(cè)試組件包括底座、嵌入件和校準(zhǔn)件。底座包括底座基片、定位腔、底座電極;嵌入件包括嵌入件基片、通孔、通孔金屬化填充、嵌入件底電極、嵌入件表電極、嵌入件端電極;校準(zhǔn)件包括校準(zhǔn)件基片、校準(zhǔn)件通孔、校準(zhǔn)件通孔金屬化填充、校準(zhǔn)件底電極、校準(zhǔn)件表電極、校準(zhǔn)件端電極、校準(zhǔn)件電極連線;校準(zhǔn)件與嵌入件的形狀、結(jié)構(gòu)及尺寸一致,區(qū)別僅在于校準(zhǔn)件的兩個(gè)表電極間設(shè)置了校準(zhǔn)件電極連線。所述制作方法為印刷、濺射方法或生瓷片印刷燒結(jié)法。解決了現(xiàn)有技術(shù)不能用于測(cè)試平面結(jié)構(gòu)芯片電感的問題。廣泛應(yīng)用于小尺寸平面芯片電感測(cè)試,或其他平面型兩端口電子器件電性能測(cè)試。
一種平面芯片電感無損測(cè)試裝置,屬于電子元器件測(cè)試領(lǐng)域。所述測(cè)試裝置包括測(cè)試儀、高頻測(cè)試夾具、測(cè)試定位模塊、校準(zhǔn)件、微帶線。測(cè)試定位模塊通過微帶線與高頻測(cè)試夾具連接,高頻測(cè)試夾具通過另一微帶線與所述測(cè)試儀連接,校準(zhǔn)件與測(cè)試定位模塊連接。測(cè)試定位模塊包括模塊基片、定位腔、底面電極、通孔、通孔金屬化填充、定位腔表電極;校準(zhǔn)件包括校準(zhǔn)件基片、校準(zhǔn)件表電極;校準(zhǔn)件與定位腔的形狀、結(jié)構(gòu)及尺寸一致。解決了現(xiàn)有技術(shù)不能用于測(cè)試平面結(jié)構(gòu)芯片電感的問題。廣泛應(yīng)用于小尺寸平面芯片電感測(cè)試,或其他平面型兩端口電子器件電性能測(cè)試。
本實(shí)用新型公開了一種何首烏塊根生長過程的無損觀測(cè)裝置,包括透明的盒體,盒體為敞口結(jié)構(gòu),在盒體的側(cè)面設(shè)有通孔。本實(shí)用新型利用敞口的盒體將何首烏塊根罩住,可以避免在挖開土壤觀測(cè)何首烏塊根時(shí)對(duì)其造成損傷,可以動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)的觀測(cè)何首烏塊根生長狀況;觀測(cè)是一個(gè)塊根真實(shí)的生長過程;由于不需要挖取大量塊根取平均值,在一定程度上降低了試驗(yàn)操作的勞動(dòng)強(qiáng)度和勞動(dòng)力成本。
本發(fā)明公開了一種無損觀測(cè)何首烏塊根生長過程的方法及裝置,在何首烏塊根剛要膨大時(shí),挖開土壤,選擇需要定期觀測(cè)的塊根,將選擇好的何首烏塊根用敞口的盒體從頂部罩住,使該何首烏塊根塊的底部與土壤接觸;然后回填土壤,使該何首烏塊根塊的頂部與土壤之間被盒體分隔開,從而確保在定期挖開土壤進(jìn)行觀測(cè)的過程中,不會(huì)損傷何首烏塊根。本發(fā)明利用敞口的盒體將何首烏塊根罩住,可以避免在挖開土壤觀測(cè)何首烏塊根時(shí)對(duì)其造成損傷,可以動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)的觀測(cè)何首烏塊根生長狀況;觀測(cè)是一個(gè)塊根真實(shí)的生長過程;由于不需要挖取大量塊根取平均值,在一定程度上降低了試驗(yàn)操作的勞動(dòng)強(qiáng)度和勞動(dòng)力成本。
本實(shí)用新型公開了一種用于無損定量測(cè)量植物愈傷組織大小的裝置。包括培養(yǎng)瓶(1),培養(yǎng)瓶(1)的整個(gè)瓶底設(shè)有網(wǎng)狀柵格,網(wǎng)狀柵格由多個(gè)方格(2)組成。本實(shí)用新型用底部毫米方格線來測(cè)量植物愈傷組織橫切面大小,用瓶體縱向刻度線來測(cè)量植物愈傷組織高度,在培養(yǎng)瓶內(nèi)進(jìn)行愈傷組織的培養(yǎng)后,能保證植物愈傷組織不被破壞或污染的同時(shí),無損定量地持續(xù)觀察愈傷組織的生長情況,操作簡便,直觀性強(qiáng),還優(yōu)化了現(xiàn)有愈傷組織培養(yǎng)瓶密封性的問題,是對(duì)現(xiàn)有量化植物愈傷組織大小問題的有效解決手段。
一種用于分流電阻器的無損測(cè)試夾具,包括:下壓裝置,樣品固定裝置,探針固定裝置,PCB轉(zhuǎn)接板,夾具底座,支撐架,固定桿,鎖緊螺母;夾具自上而下包括下壓裝置、樣品固定裝置、探針固定裝置、PCB轉(zhuǎn)接板、夾具底座。將被測(cè)件放入上述的產(chǎn)品固定座內(nèi),所述的下壓裝置將產(chǎn)品下壓固定,所述的測(cè)試探針接觸產(chǎn)品后收縮,測(cè)試信號(hào)通過所述的轉(zhuǎn)接PCB和測(cè)試線纜傳輸?shù)絻x表進(jìn)行測(cè)試。探針為鍍金探針,通過四線開爾文方式分布,實(shí)現(xiàn)四線開爾文電阻測(cè)試,解決了現(xiàn)有技術(shù)中分流電阻器的測(cè)量誤差較大、測(cè)量精度低、高低溫測(cè)試不準(zhǔn)確、測(cè)試一致性和重復(fù)性差的問題。廣泛應(yīng)用于分流電阻器的無損測(cè)試。
本發(fā)明公開了一種棉花葉面積指數(shù)快速無損測(cè)定方法,包括:根據(jù)棉花冠層透射和葉片散射的結(jié)合計(jì)算葉面積指數(shù);對(duì)葉面積指數(shù)利用修正模型進(jìn)行修正,得到修正后的葉面積指數(shù),修正模型為:LAI=0.84*LAIAccuPAR+0.0879,LAI為修正后的葉面積指數(shù),LAIAccuPAR為修正之前計(jì)算得到的葉面積指數(shù)。以間接測(cè)量法代替?zhèn)鹘y(tǒng)的具有破壞性的直接測(cè)量法,并對(duì)根據(jù)棉花冠層透射和葉片散射的結(jié)合計(jì)算得到的葉面積指數(shù)利用修正模型進(jìn)行修正,反演計(jì)算出田間棉花群體真實(shí)的葉面積指數(shù),該方法可以快速、無損、有效的估測(cè)大田棉花群體葉面積指數(shù)真實(shí)值,用于棉花群體長勢(shì)估測(cè)和判斷,以及采取相應(yīng)的栽培措施進(jìn)行田間管理。
本發(fā)明公開了一種巖石體密度無損無污染的高精度測(cè)定方法,將巖石用天平稱重后,裝入醫(yī)療級(jí)氣球后利用真空泵將氣球內(nèi)的空氣抽出后在氣球頸部打結(jié),再利用理想氣體密度儀對(duì)封裝后的巖石和氣球體積進(jìn)行測(cè)定,接著剪破氣球,取出巖石后捋剪破的氣球放入理想氣體密度儀中測(cè)定其體積,最后通過計(jì)算獲得待測(cè)巖石的體密度。該方法具有操作簡單、快速、無損、無污染、高精度等特點(diǎn)。
本發(fā)明公開了一種無損快速測(cè)定奧氏體不銹鋼的方法,采用銅為材料制作出兩個(gè)探頭,將其中一個(gè)探頭被加熱至20-400℃,使加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料的表面接觸,并組成回路,檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,當(dāng)回路中的電勢(shì)差為1.95-3.94mv時(shí),則確定待檢測(cè)的金屬成品制件為材料為β型鈦合金。本發(fā)明利用金屬材料的塞貝克效應(yīng),采用銅作為熱端探頭,將加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料組成回路,并檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,從而判斷待檢測(cè)的金屬材料是否是奧氏體不銹鋼,完全改變測(cè)定金屬材料的傳統(tǒng)分析方法如化學(xué)成分分析法、金相法等,無需將檢測(cè)的試樣搬運(yùn)至實(shí)驗(yàn)室,也不會(huì)對(duì)檢測(cè)的試樣造成損傷,在極大的提高了檢測(cè)效率的同時(shí),保證了檢測(cè)的安全性,特別是針對(duì)零件成品,在無需非常嚴(yán)格的材料成分檢測(cè)中,能發(fā)揮積極效果。
本發(fā)明公開了一種無損快速測(cè)定鎳基變形高溫合金的方法,采用銅為材料制作出兩個(gè)探頭,將其中一個(gè)探頭被加熱至150-400℃,使加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料的表面接觸,并組成回路,檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,當(dāng)回路中的電勢(shì)差為1.54-4.94mv時(shí),則確定待檢測(cè)的金屬成品制件為材料為β型鈦合金。本發(fā)明利用金屬材料的塞貝克效應(yīng),采用銅作為熱端探頭,將加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料組成回路,并檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,從而判斷待檢測(cè)的金屬材料是否是鎳基變形高溫合金,完全改變測(cè)定金屬材料的傳統(tǒng)分析方法如化學(xué)成分分析法、金相法等,無需將檢測(cè)的試樣搬運(yùn)至實(shí)驗(yàn)室,也不會(huì)對(duì)檢測(cè)的試樣造成損傷,在極大的提高了檢測(cè)效率的同時(shí),保證了檢測(cè)的安全性,特別是針對(duì)零件成品,在無需非常嚴(yán)格的材料成分檢測(cè)中,能發(fā)揮積極效果。
本發(fā)明公開了一種無損快速測(cè)定α+β雙相鈦合金的方法,采用銅為材料制作出兩個(gè)探頭,將其中一個(gè)探頭被加熱至200-400℃,使加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料的表面接觸,并組成回路,檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,當(dāng)回路中的電勢(shì)差為1.65-3.31mv時(shí),則確定待檢測(cè)的金屬成品制件為材料為α+β雙相鈦合金。本發(fā)明利用金屬材料的塞貝克效應(yīng),采用銅作為熱端探頭,將加熱的探頭與待測(cè)的金屬材料組成回路,并檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,從而判斷待測(cè)的金屬材料是否是α+β雙相鈦合金,完全改變測(cè)定金屬材料的傳統(tǒng)分析方法如化學(xué)成分分析法、金相法等,無需將待測(cè)的零部件搬運(yùn)至實(shí)驗(yàn)室,也不會(huì)對(duì)待測(cè)的產(chǎn)品造成損傷,在極大的提高了檢測(cè)效率的同時(shí),保證了檢測(cè)的安全性,特別是針對(duì)零件成品,在無需非常嚴(yán)格的材料成分檢測(cè)中,能發(fā)揮積極效果。
本發(fā)明公開了一種無損快速測(cè)定超硬鋁的方法,采用銅為材料制作出兩個(gè)探頭,將其中一個(gè)探頭被加熱至100-400℃,使加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料的表面接觸,并組成回路,檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,當(dāng)回路中的電勢(shì)差為0.81-6.41mv時(shí),則確定待檢測(cè)的金屬成品制件為材料為β型鈦合金。本發(fā)明利用金屬材料的塞貝克效應(yīng),采用銅作為熱端探頭,將加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料組成回路,并檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,從而判斷待檢測(cè)的金屬材料是否是超硬鋁,完全改變測(cè)定金屬材料的傳統(tǒng)分析方法如化學(xué)成分分析法、金相法等,無需將檢測(cè)的試樣搬運(yùn)至實(shí)驗(yàn)室,也不會(huì)對(duì)檢測(cè)的試樣造成損傷,在極大的提高了檢測(cè)效率的同時(shí),保證了檢測(cè)的安全性,特別是針對(duì)零件成品,在無需非常嚴(yán)格的材料成分檢測(cè)中,能發(fā)揮積極效果。
本發(fā)明公開了一種無損快速測(cè)定α型鈦合金的方法,采用銅為材料制作出兩個(gè)探頭,將其中一個(gè)探頭被加熱至150-400℃,使加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料的表面接觸,并組成回路,檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,當(dāng)回路中的電勢(shì)差為0.48-0.79mv時(shí),則確定待檢測(cè)的金屬成品制件為材料為α型鈦合金。本發(fā)明利用金屬材料的塞貝克效應(yīng),采用銅作為熱端探頭,將加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料組成回路,并檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,從而判斷待檢測(cè)的金屬材料是否是α型鈦合金,完全改變測(cè)定金屬材料的傳統(tǒng)分析方法如化學(xué)成分分析法、金相法等,無需將檢測(cè)的試樣搬運(yùn)至實(shí)驗(yàn)室,也不會(huì)對(duì)檢測(cè)的試樣造成損傷,在極大的提高了檢測(cè)效率的同時(shí),保證了檢測(cè)的安全性,特別是針對(duì)零件成品,在無需非常嚴(yán)格的材料成分檢測(cè)中,能發(fā)揮積極效果。
本發(fā)明公開了一種無損快速測(cè)定β型鈦合金的方法,采用銅為材料制作出兩個(gè)探頭,將其中一個(gè)探頭被加熱至150-400℃,使加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料的表面接觸,并組成回路,檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,當(dāng)回路中的電勢(shì)差為0.78-2.0mv時(shí),則確定待檢測(cè)的金屬成品制件為材料為β型鈦合金。本發(fā)明利用金屬材料的塞貝克效應(yīng),采用銅作為熱端探頭,將加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料組成回路,并檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,從而判斷待檢測(cè)的金屬材料是否是β型鈦合金,完全改變測(cè)定金屬材料的傳統(tǒng)分析方法如化學(xué)成分分析法、金相法等,無需將檢測(cè)的試樣搬運(yùn)至實(shí)驗(yàn)室,也不會(huì)對(duì)檢測(cè)的試樣造成損傷,在極大的提高了檢測(cè)效率的同時(shí),保證了檢測(cè)的安全性,特別是針對(duì)零件成品,在無需非常嚴(yán)格的材料成分檢測(cè)中,能發(fā)揮積極效果。
本發(fā)明公開了一種無損快速測(cè)定彈簧鋼的方法,采用銅為材料制作出兩個(gè)探頭,將其中一個(gè)探頭被加熱至200-400℃,使加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料的表面接觸,并組成回路,檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,當(dāng)回路中的電勢(shì)差為2.64-5.53mv時(shí),則確定待檢測(cè)的金屬成品制件為材料為β型鈦合金。本發(fā)明利用金屬材料的塞貝克效應(yīng),采用銅作為熱端探頭,將加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料組成回路,并檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,從而判斷待檢測(cè)的金屬材料是否是彈簧鋼,完全改變測(cè)定金屬材料的傳統(tǒng)分析方法如化學(xué)成分分析法、金相法等,無需將檢測(cè)的試樣搬運(yùn)至實(shí)驗(yàn)室,也不會(huì)對(duì)檢測(cè)的試樣造成損傷,在極大的提高了檢測(cè)效率的同時(shí),保證了檢測(cè)的安全性,特別是針對(duì)零件成品,在無需非常嚴(yán)格的材料成分檢測(cè)中,能發(fā)揮積極效果。
本發(fā)明公開了一種無損快速測(cè)定合金高速鋼的方法,采用銅為材料制作出兩個(gè)探頭,將其中一個(gè)探頭被加熱至150-400℃,使加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料的表面接觸,并組成回路,檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,當(dāng)回路中的電勢(shì)差為1.36-4.58mv時(shí),則確定待檢測(cè)的金屬成品制件為材料為β型鈦合金。本發(fā)明利用金屬材料的塞貝克效應(yīng),采用銅作為熱端探頭,將加熱的探頭與待檢測(cè)的金屬材料組成回路,并檢測(cè)回路中的電勢(shì)差,從而判斷待檢測(cè)的金屬材料是否是合金高速鋼,完全改變測(cè)定金屬材料的傳統(tǒng)分析方法如化學(xué)成分分析法、金相法等,無需將檢測(cè)的試樣搬運(yùn)至實(shí)驗(yàn)室,也不會(huì)對(duì)檢測(cè)的試樣造成損傷,在極大的提高了檢測(cè)效率的同時(shí),保證了檢測(cè)的安全性,特別是針對(duì)零件成品,在無需非常嚴(yán)格的材料成分檢測(cè)中,能發(fā)揮積極效果。
本實(shí)用新型公開了一種圖書館還書無損檢查輔助裝置,包括底板、放置臺(tái)、緩釋反彈翻頁件、側(cè)板、頂持板和頂持驅(qū)動(dòng)件,所述放置臺(tái)設(shè)于底板上,所述放置臺(tái)為中空結(jié)構(gòu)設(shè)置,所述側(cè)板設(shè)于放置臺(tái)上部,所述緩釋反彈翻頁件設(shè)于放置臺(tái)上壁且靠近側(cè)板設(shè)置,所述頂持驅(qū)動(dòng)件設(shè)于放置臺(tái)內(nèi),所述頂持板設(shè)于放置臺(tái)上且與頂持驅(qū)動(dòng)件連接。本實(shí)用新型屬于圖書館設(shè)施技術(shù)領(lǐng)域,具體是指一種圖書館還書無損檢查輔助裝置。
一種氣密性封裝集成電路批量性無損檢漏方法及裝置,包括密閉操作箱、氮?dú)廨斎牍艿?、氦氣或混合氣輸入管道、氣體流動(dòng)方向箭頭、多余氣體流出管道、氣體循環(huán)凈化系統(tǒng)。在進(jìn)行產(chǎn)品密封前,分別往密閉操作箱充入氦氣與氮?dú)猓ㄟ^控制氦氣與氮?dú)獾牧髁?,在密閉操作箱內(nèi)進(jìn)行氦氣與氮?dú)獾幕旌希玫剿韬夂康幕旌蠚怏w,然后在一定氣壓下進(jìn)行產(chǎn)品密封,在密封過程中實(shí)現(xiàn)將密閉操作箱體內(nèi)的含氦混合氣體直接封入產(chǎn)品內(nèi)腔內(nèi),在產(chǎn)品密封后無需加壓便可直接進(jìn)行氦質(zhì)譜檢漏測(cè)試。具有實(shí)施簡單、穩(wěn)定可靠、密封外殼快速檢漏、能夠有效提高產(chǎn)品流轉(zhuǎn)周期和氣密性水平、方便后續(xù)進(jìn)行產(chǎn)品RGA計(jì)算等特點(diǎn),可廣泛應(yīng)用于各種氣密性集成電路或器件的密封檢漏。
一種氣密性封裝集成電路批量性無損檢漏裝置,包括密閉操作箱體、氮?dú)廨斎牍艿?、氦氣或混合氣輸入管道、氣體流動(dòng)方向箭頭、多余氣體流出管道、氣體循環(huán)凈化系統(tǒng)。所述氮?dú)廨斎牍艿琅c所述氦氣或混合氣輸入管道位于所述操作倉的上側(cè),所述進(jìn)口傳遞倉位于所述操作倉的左側(cè),所述出口傳遞倉位于所述操作倉的右側(cè),所述氣體循環(huán)凈化系統(tǒng)位于所述操作倉的底側(cè),所述多余氣體流出管道位于所述操作倉的右上側(cè)。經(jīng)所述裝置進(jìn)行產(chǎn)品密封后無需加壓便可直接進(jìn)行氦質(zhì)譜檢漏測(cè)試。具有實(shí)施簡單、穩(wěn)定可靠、密封外殼快速檢漏、能夠有效提高產(chǎn)品流轉(zhuǎn)周期和氣密性水平、方便后續(xù)進(jìn)行產(chǎn)品RGA計(jì)算等特點(diǎn),可廣泛應(yīng)用于各種氣密性集成電路或器件的密封檢漏。
本實(shí)用新型提供了一種錨桿無損檢測(cè)了減振裝置,包括錨桿、上錨桿卡、上錨桿卡套環(huán)、下錨桿卡、下錨桿卡套環(huán)、卡桿螺栓、下錨桿卡懸臂、彈性結(jié)構(gòu)、錨固體;所述錨桿上端用上錨桿卡卡住,錨桿下端靠近錨固體處用下錨桿卡卡住,上錨桿卡上連接上錨桿卡套環(huán)同時(shí)用卡桿螺栓緊固,下錨桿卡上連接下錨桿卡懸臂,下錨桿卡懸臂連接下錨桿卡套環(huán),對(duì)應(yīng)上錨桿卡套環(huán)和下錨桿卡套環(huán)之間連接有彈性結(jié)構(gòu),一個(gè)上錨桿卡套環(huán)、一個(gè)彈性結(jié)構(gòu)、一個(gè)下錨桿卡套環(huán)、一個(gè)下錨桿卡懸臂組成一組。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單、方便易,用能使橫向振動(dòng)干擾信號(hào)大幅度降低,提高有用信號(hào)反射波的分比率與信噪比。
一種有機(jī)烤煙生長后期煙葉成熟程度的無損檢測(cè)方法,是在有機(jī)煙葉成熟采收前,從移栽期和栽培管理措施一致的煙田中隨機(jī)選擇20株煙,用葉綠素儀分別測(cè)定葉1~6片的SPAD平均值;SPAD平均值越大,成熟度越差;平均值大于32時(shí),則該煙葉為欠熟或未熟;平均值在27~32時(shí),則該煙葉為尚熟;平均值在20~27時(shí),則該煙葉為成熟或適熟;當(dāng)平均值在14~20時(shí),該煙葉為完熟;當(dāng)平均值小于14時(shí),則定義該煙葉為過熟。本發(fā)明方法的指標(biāo)明確,具有客觀的判斷指標(biāo),能夠量化成熟度,減少了因人視覺誤差造成的損失,而且容易操作和掌握。采用本法指導(dǎo)烤煙種植,煙葉顏色均勻,色度好,綜合品質(zhì)提高。適用于煙草種植業(yè)。
本實(shí)用新型公開了一種無損檢測(cè)混凝土強(qiáng)度裝置,包括回彈儀本體,所述回彈儀本體底部設(shè)有彈擊桿,所述回彈儀本體外部設(shè)有輔助機(jī)構(gòu),所述輔助機(jī)構(gòu)包括固定筒,所述固定筒兩側(cè)均設(shè)有按壓把手,所述固定筒內(nèi)部頂端設(shè)有固定底座,所述固定底座底部固定有安裝底座,所述回彈儀本體安裝于所述安裝底座內(nèi)部,所述安裝底座底部設(shè)有固定件,所述固定件固定于所述固定筒內(nèi)部,所述固定筒底端外壁設(shè)有回縮筒,所述回縮筒和所述固定筒接縫處設(shè)有連接機(jī)構(gòu),所述回縮筒頂部和所述按壓把手之間設(shè)有自動(dòng)回彈機(jī)構(gòu)。
本發(fā)明公開了一種烤煙采收成熟度的快速無損檢測(cè)方法,該方法是在煙葉正常成熟采收前,從移栽期和栽培管理措施一致的煙田中隨機(jī)選擇10~20株煙,用便攜式色差計(jì)分別測(cè)定中部(從下往上)1~3片煙葉L*a*b*或/和L*C*h*顏色值。根據(jù)不同成熟度煙葉顏色值的變化范圍,量化煙葉采收成熟度。本發(fā)明方法解決了烤煙成熟采收過程中沒有明確的指標(biāo)和量化指標(biāo)的難題。該方法指標(biāo)明確,具有客觀的判斷指標(biāo),能夠量化成熟度指標(biāo),而且容易操作和掌握。采用該方法判斷煙葉采收成熟度,采收烘烤后煙葉顏色均勻一致,色度好,油分多,香氣足。適用于煙草種植好加工企業(yè)。
中冶有色為您提供最新的貴州有色金屬分析檢測(cè)技術(shù)理論與應(yīng)用信息,涵蓋發(fā)明專利、權(quán)利要求、說明書、技術(shù)領(lǐng)域、背景技術(shù)、實(shí)用新型內(nèi)容及具體實(shí)施方式等有色技術(shù)內(nèi)容。打造最具專業(yè)性的有色金屬技術(shù)理論與應(yīng)用平臺(tái)!