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      漩渦式探針、探針測試裝置、探針卡系統(tǒng)及多晶片模塊的失效分析方法

      835   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
      2023-03-19 08:59:29
      一種漩渦式探針、探針測試裝置、探針卡系統(tǒng)及多晶片模塊的失效分析方法。漩渦式探針包括一針體、一連接部與一漩渦彈簧。針體的一端具有一針尖。漩渦彈簧連接針體與連接部。漩渦彈簧包含一圈以上的旋繞體,這些旋繞體彼此共平面,且這些旋繞體的軸心與針體的長軸方向正交。故,通過上述架構(gòu),漩渦式探針不致于導(dǎo)電接點(diǎn)上橫向滑移,降低滑出導(dǎo)電接點(diǎn)的范圍的機(jī)會,以維持探針與導(dǎo)電接點(diǎn)之間的電接品質(zhì)及測試性能,以及縮小測試變數(shù)。
      聲明:
      “漩渦式探針、探針測試裝置、探針卡系統(tǒng)及多晶片模塊的失效分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
      我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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