本發(fā)明公開(kāi)了一種用于背面EMMI失效分析的裝置,包括一PVC電路板、一信號(hào)輸入輸出底座;所述PVC電路板的中心設(shè)置有一透明的有機(jī)玻璃片,有機(jī)玻璃片的四周設(shè)置有多個(gè)金屬引腳;PVC電路板的四個(gè)角分別設(shè)置有電路板金屬襯墊;每個(gè)金屬引腳分別通過(guò)金屬線連接一跳線接口,每個(gè)跳線接口通過(guò)金屬線分別與四個(gè)電路板金屬襯墊連接;所述信號(hào)輸入輸出底座包括座體,座體的四個(gè)角分別設(shè)置有底座金屬襯墊,底座金屬襯墊的位置與所述電路板金屬襯墊的位置相對(duì)應(yīng)。本發(fā)明能夠使背面EMMI失效分析更加簡(jiǎn)單、快速和可靠地定位到失效點(diǎn),只需要花費(fèi)幾個(gè)小時(shí)的時(shí)間就可以完成原先需要幾個(gè)工作日才能完成的失效缺陷的定位。本發(fā)明還公開(kāi)了一種背面EMMI失效分析方法。
聲明:
“用于背面EMMI失效分析的裝置及失效分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)