短路棒及顯示面板的測試結(jié)構(gòu) 1030     

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本申請?zhí)峁┝硕搪钒艏帮@示面板的測試結(jié)構(gòu)。所述短路棒包括：短路棒本體，所述短路棒本體在X軸方向上延伸設(shè)置，所述短路棒本體Z軸方向上的高度沿著Y軸方向逐漸遞減。本申請技術(shù)方案通過使短路棒Z軸方向的高度沿著Y軸方向逐漸遞減，在保證短路棒起到電性連接作用的基礎(chǔ)上，降低了短路棒的厚度，待點燈測試后，可以更加容易地切除短路棒，避免短路棒殘留，從而有效防止后段模組的ESD或因短路棒串入水氣引起腐蝕的現(xiàn)象，避免顯示面板失效。另外，由于短路棒的厚度降低，還可以減少研磨時所產(chǎn)生的金屬屑，避免污染產(chǎn)線，有利于提升產(chǎn)品的良率。

變壓器漏電監(jiān)測系統(tǒng) 694     

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本實用新型涉及電力技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種變壓器漏電監(jiān)測系統(tǒng)。包括控制組件、供電組件、監(jiān)測組件和報警組件，控制組件的一側(cè)裝有供電組件，控制組件的另一側(cè)設(shè)置有監(jiān)測組件，控制組件的一端裝有報警組件，供電組件、監(jiān)測組件和報警組件分別與控制組件電連接。該漏電監(jiān)測系統(tǒng)具有供電穩(wěn)定、檢測效果好和預(yù)警及時的優(yōu)點，通過充電器、太陽能板和電池為裝置進(jìn)行供電，以便在充電器連接的市電供電失效時，切換到電池繼續(xù)供電；該監(jiān)測系統(tǒng)利用電流傳感器和電壓傳感器分別對變壓器和地面電壓進(jìn)行監(jiān)測，然后通過短信發(fā)出預(yù)警，及時性較好，解決了現(xiàn)有的漏電監(jiān)測系統(tǒng)存有的容易斷電失效、檢測效果較差和預(yù)警不及時的問題，滿足了變壓器的監(jiān)測需要。

SVG老化失效預(yù)判斷退出的方法 855     

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一種SVG老化失效預(yù)判斷退出的方法屬于電力系統(tǒng)動態(tài)無功補(bǔ)償技術(shù)領(lǐng)域，根據(jù)SVG運(yùn)行時檢測到的IGBT最大額定輸出電流和運(yùn)行最高溫度比值變化，計算得出溫度/電流比值參數(shù)，判斷SVG的IGBT是否已處于老化失效，臨近損壞狀態(tài)，并根據(jù)判斷結(jié)果控制SVG與電網(wǎng)的連接線路斷開或閉合，從而實現(xiàn)在SVG臨近損壞時，脫離退出電網(wǎng)，有效降低SVG的工作風(fēng)險。

基于逆向技術(shù)的失效零件優(yōu)化設(shè)計方法 764     

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本發(fā)明公開了一種基于逆向技術(shù)的失效零件優(yōu)化設(shè)計方法，屬于機(jī)械制造領(lǐng)域，所述方法包括逆向采集實物零部件的三維數(shù)據(jù)，對采集的三維數(shù)據(jù)進(jìn)行與完整的部件三維數(shù)據(jù)進(jìn)行對比，得到損害部分的三維數(shù)據(jù)，對部件損害部分的三維數(shù)據(jù)分析損壞的原因和因素，根據(jù)部件損害部分的三維數(shù)據(jù)損壞的原因和因素進(jìn)行重新設(shè)計出新的整體三維數(shù)據(jù)，將優(yōu)化設(shè)計的部件再造。通過將部件磨損的最基礎(chǔ)的機(jī)械動作進(jìn)行分解，再把分解的機(jī)械動作造成的磨損元進(jìn)行搜索，豐富基礎(chǔ)動作，更全面的考慮造成部件磨損的機(jī)械動作，可以使得在后續(xù)的設(shè)計中避免相應(yīng)的結(jié)構(gòu)或者因素，提高部件的適應(yīng)性，減少部件磨損的程度，提高壽命，通過設(shè)計和原來的部件相比，壽命達(dá)到三倍以上。

針對壓敏電阻失效狀態(tài)監(jiān)測的預(yù)測方法 739     

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本發(fā)明涉及一種針對壓敏電阻失效狀態(tài)監(jiān)測的預(yù)測方法，包括下述步驟：用8/20電流沖擊壓敏電阻；測量壓敏電阻第一次受到?jīng)_擊電流后的宏觀電容量；測量壓敏電阻第一次受到?jīng)_擊電流后的壓敏電壓；將壓敏電壓與宏觀電容量的乘積定義為壓敏電阻初期劣化指標(biāo)；持續(xù)監(jiān)測壓敏電阻初期劣化指標(biāo)，當(dāng)繼續(xù)受到電流沖擊后，壓敏電壓與宏觀電容量的乘積低于該指標(biāo)時，表示壓敏電阻處于劣化初期，性能良好，可以繼續(xù)使用；當(dāng)乘積值高于該指標(biāo)時，代表了壓敏電阻已進(jìn)入劣化的中后期。本發(fā)明解決了壓敏電阻失效監(jiān)測中漏電流與壓敏電壓的滯后性問題，提出壓敏電阻初期劣化指標(biāo)與漏電流和壓敏電壓參數(shù)相結(jié)合，這一參數(shù)的預(yù)先性是漏電流與壓敏電壓無可取代的的作用。