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本發(fā)明涉及一種基于構(gòu)件表面的破壞型形變和斷裂型裂紋的預(yù)警監(jiān)測方法、條件構(gòu)建方法及其裝置。特征是:預(yù)警監(jiān)測方法包括失效信號(hào)采集和信號(hào)處理;條件構(gòu)建方法包括驅(qū)動(dòng)層的制備、網(wǎng)絡(luò)電橋?qū)拥闹苽?、信?hào)采集傳感器的制備、信號(hào)傳輸轉(zhuǎn)接電路的制作,信息處理系統(tǒng)回路的制作;根據(jù)上述方法研制的裝置包括驅(qū)動(dòng)層、網(wǎng)絡(luò)電橋?qū)印⒈Wo(hù)層;信號(hào)采集傳感器通過柵狀金屬片連接的導(dǎo)線,與信息處理系統(tǒng)的轉(zhuǎn)接電路板連接;信息處理系統(tǒng)的轉(zhuǎn)接電路與可編程控制器的I/O連接;可編程控制器與監(jiān)測輸出裝置通過適配器連接。其優(yōu)點(diǎn)在于:能實(shí)現(xiàn)構(gòu)件表面關(guān)鍵部位的實(shí)時(shí)狀態(tài)監(jiān)測,方法簡單,原料廉價(jià),定位準(zhǔn)確,有利于操作人員迅速判斷,避免重大事故的發(fā)生。
本發(fā)明公開了一種監(jiān)測發(fā)光環(huán)境障礙涂層失效狀況的方法,首先對(duì)發(fā)光環(huán)境障礙涂層進(jìn)行熒光成像,若在熒光成像圖像中存在黑色區(qū)域,則判斷發(fā)光環(huán)境障礙涂層存在開裂或剝落區(qū)域,已經(jīng)發(fā)生了結(jié)構(gòu)宏觀失效,否則分別測量未受腐蝕的和待監(jiān)測的發(fā)光環(huán)境障礙涂層在特定激發(fā)波長下的熒光光譜,并分別計(jì)算兩種光譜中對(duì)應(yīng)于激活離子電偶極躍遷的強(qiáng)度最大的特征峰和對(duì)應(yīng)于激活離子磁偶極躍遷的強(qiáng)度最大的特征峰之間的強(qiáng)度比,并計(jì)算強(qiáng)度比的變化值,若其絕對(duì)值≥20%,則判斷發(fā)光環(huán)境障礙涂層發(fā)生了結(jié)構(gòu)衰變。本方法靈敏度高,具有廣泛的適用對(duì)象和使用環(huán)境。
本發(fā)明公開了一種大規(guī)模集成互連電遷移失效快速自動(dòng)測試方法,主要解決現(xiàn)有技術(shù)的測試成本高、測試規(guī)模小的問題。其實(shí)現(xiàn)方案是:利用反熔絲在編程前后電阻發(fā)生巨大變化這一特性,在集成互連線的焊盤上通過平面集成工藝制作反熔絲,形成互連和反熔絲并聯(lián)的結(jié)構(gòu),將大量的該互連-反熔絲單元結(jié)構(gòu)串聯(lián)起來即形成大規(guī)模集成互連多鏈接結(jié)構(gòu),在該多鏈接結(jié)構(gòu)兩端分別連接測試電流源和電壓表進(jìn)行電遷移失效測試,并記錄多鏈接結(jié)構(gòu)兩端的電壓下降跳變點(diǎn)時(shí)間,作為互連的失效時(shí)間。本發(fā)明具有測試成本低、測試效率高的優(yōu)點(diǎn),可用于大規(guī)模集成互連電遷移失效的測試。
本發(fā)明公開了一種基于多指標(biāo)監(jiān)測的油液失效診斷溯源方法及系統(tǒng),構(gòu)建多指標(biāo)失效診斷樹狀結(jié)構(gòu);對(duì)底事件指標(biāo)層的油液監(jiān)測數(shù)據(jù)進(jìn)行量綱統(tǒng)一,并劃分狀態(tài)等級(jí),采用模糊隸屬函數(shù)對(duì)量綱統(tǒng)一后的指標(biāo)層數(shù)據(jù)進(jìn)行模糊化,得到油液監(jiān)測數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)每個(gè)狀態(tài)等級(jí)的隸屬度概率;建立基于IF?THEN規(guī)則的專家系統(tǒng),對(duì)樹狀結(jié)構(gòu)的與門和或門制定不同的推理規(guī)則,將隸屬度概率輸入基于IF?THEN規(guī)則的專家系統(tǒng),得到油液綜合狀態(tài)隸屬于每個(gè)狀態(tài)等級(jí)的聯(lián)合概率值;根據(jù)聯(lián)合概率值對(duì)油液不同狀態(tài)等級(jí)賦予不同的效用區(qū)間,解模糊化得到油液綜合狀態(tài)值,根據(jù)閾值對(duì)油液狀態(tài)進(jìn)行診斷;對(duì)診斷為失效的數(shù)據(jù)進(jìn)行溯源。本發(fā)明提高了油液失效狀態(tài)判定的科學(xué)性和準(zhǔn)確性。
本發(fā)明公開了一種預(yù)報(bào)集成電路負(fù)偏壓不穩(wěn)定性失效的測試電路。主要包括測量管(3),恒流偏置電路,電壓參考電路,滯回比較器電路,雙向開關(guān)電路,開關(guān)管(12)。該測量管(3)用于測量閾值電壓漂移,該恒流偏置電路給測量管(3)提供恒流偏置,該電壓參考電路給滯回比較器提供參考電壓,雙向開關(guān)電路使測量管(3)在退化與測試之間進(jìn)行切換。退化期間,該開關(guān)管(12)關(guān)閉滯回比較器、恒流偏置電路和電壓參考電路,以減小功耗;測試時(shí),開關(guān)管(12)開啟滯回比較器、恒流偏置電路和電壓參考電路,當(dāng)測量管源漏電壓大于參考電壓,滯回比較器輸出高電平,預(yù)示著集成電路即將失效。本發(fā)明可用于對(duì)負(fù)偏壓不穩(wěn)定性效應(yīng)失效的預(yù)報(bào)。
本發(fā)明公開了一種含復(fù)雜缺陷材料失效參數(shù)的測定方法,首先制備材料試件,然后對(duì)試件表面進(jìn)行拋光處理,將每個(gè)試件表面用兩種色差的消反光漆噴涂成散斑狀態(tài);接著利用力學(xué)試驗(yàn)機(jī)對(duì)每個(gè)試件兩端進(jìn)行拉伸加載,直到試件完全斷裂為止;然后使用3D-DIC光學(xué)測量設(shè)備對(duì)加載過程進(jìn)行圖像記錄,得到每個(gè)試件全程加載的位移場分布;選取任意包圍所有缺陷的閉合積分路徑,利用M積分的定義式得到M積分的值:最后計(jì)算試樣失效參數(shù):Π=ME/(σ2AD);材料復(fù)雜缺陷的失效準(zhǔn)則定義為:Π≥ΠC,計(jì)算的Π參數(shù),當(dāng)它達(dá)到臨界值ΠC時(shí),代表著缺陷開始失穩(wěn)擴(kuò)展。
本發(fā)明一種DRAM晶圓測試中精確捕獲失效地址的方法,包括如下步驟,步驟1,針對(duì)DRAM晶圓測試流程中的任意功能測試項(xiàng),給每個(gè)功能測試項(xiàng)分配一個(gè)變量,變量與功能測試項(xiàng)一一對(duì)應(yīng);步驟2,根據(jù)測試需求,對(duì)變量在晶圓測試開始后一次性賦值,控制是否捕獲對(duì)應(yīng)測試項(xiàng)的失效地址;步驟3,在執(zhí)行功能測試項(xiàng)并通過地址失效寄存器AFM記錄對(duì)應(yīng)的失效地址后,根據(jù)當(dāng)前測試項(xiàng)以及當(dāng)前測試項(xiàng)的前一個(gè)測試項(xiàng)的變量賦值狀況,控制是否讀取地址失效寄存器AFM中的累積失效信息,并生成臨時(shí)文件;步驟4,通過對(duì)生成的臨時(shí)文件之間失效地址信息的比對(duì),剔除掉重復(fù)的信息,最終生成當(dāng)前測試項(xiàng)的失效地址文件。
本申請(qǐng)屬于飛機(jī)結(jié)構(gòu)強(qiáng)度設(shè)計(jì)領(lǐng)域,涉及一種拉壓剪復(fù)合載荷作用的加筋壁板失效預(yù)測方法,所述方法包括:獲得由拉壓載荷分量一次項(xiàng)、拉壓載荷分量二次項(xiàng)以及剪切載荷分量二次項(xiàng)組成的冪級(jí)失效方程;獲取單純剪切載荷作用下的剪切失效臨界載荷,計(jì)算剪切載荷分量二次項(xiàng)的系數(shù);求解拉壓載荷分量一次項(xiàng)的系數(shù)及拉壓載荷分量二次項(xiàng)的系數(shù);基于由所述剪切載荷分量二次項(xiàng)的系數(shù)、所述拉壓載荷分量一次項(xiàng)的系數(shù)及所述拉壓載荷分量二次項(xiàng)的系數(shù)構(gòu)成的冪級(jí)失效方程來對(duì)加筋壁板進(jìn)行失效預(yù)測。本申請(qǐng)僅需軸向壓縮、拉伸及剪切的單一載荷試驗(yàn)數(shù)據(jù)即可完成對(duì)任意比例的軸向載荷和剪切載荷作用下的壁板結(jié)構(gòu)失效載荷的預(yù)測。極大地提高了設(shè)計(jì)效率,準(zhǔn)確度高。
本發(fā)明公開了一種判斷浪涌電流測試中SiC MOSFET失效原因的方法,在電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)器和并網(wǎng)系統(tǒng)等高功率變換器中,SiC功率MOSFET及其體二極管可能會(huì)遭受大浪涌電流的沖擊,需要研究SiC功率MOSFET的浪涌電流能力和浪涌電流可靠性并判斷其失效原因。對(duì)于浪涌電流測試中SiC MOSFET失效原因的判斷主要借助于器件解封后的失效觀察,缺乏與電學(xué)性能有關(guān)的判斷方法。本發(fā)明對(duì)SiC MOSFET在正柵偏浪涌電流測試中可能存在的失效原因,提出了一種與電學(xué)性能相關(guān)的判斷方法,能夠根據(jù)浪涌電流測試中浪涌電壓波形的變化規(guī)律判斷SiC MOSFET的失效原因,通過比較最大浪涌電流能力驗(yàn)證器件的失效原因,避免了對(duì)器件進(jìn)行解封觀察,減少了工作量,有利于了解器件的失效過程,補(bǔ)充了SiC MOSFET的可靠性研究。
一種診斷反應(yīng)堆中子探測器失效的方法,通過對(duì)探測器測量值的直接比較法、測量值間比較法、測量值與響應(yīng)重構(gòu)值比較法分三個(gè)階段對(duì)探測器測量值進(jìn)行失效診斷;三種判斷方式的結(jié)合使用使得本發(fā)明所描述的探測器失效診斷方法不僅可以對(duì)探測器完全失效進(jìn)行有效診斷,同時(shí)可以對(duì)探測器測量值偏離正常值的失效做出準(zhǔn)確診斷,并具備區(qū)分探測器失效及局部功率振蕩的能力;通過去除失效探測器測量值,保證堆芯功率分布在線監(jiān)測系統(tǒng)不使用故障探測器測量值,為在線監(jiān)測系統(tǒng)提供可靠輸入?yún)?shù);本發(fā)明中探測器失效診斷方法不受探測器類型、在線監(jiān)測方法、探測器失效類型的限制,失效診斷用時(shí)短、診斷迅速、診斷結(jié)果準(zhǔn)確可靠。
本發(fā)明涉及一種自適應(yīng)非接觸式失效衛(wèi)星的形態(tài)參數(shù)測算方法,涉及航天領(lǐng)域的空間在軌服務(wù)技術(shù)下的失效衛(wèi)星的形態(tài)參數(shù)測算技術(shù)。其原理為在所建立的基于對(duì)偶矢量四元數(shù)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)學(xué)與動(dòng)力學(xué)模型的基礎(chǔ)上,根據(jù)測量輸入設(shè)計(jì)自適應(yīng)卡爾曼形態(tài)參數(shù)測算算法對(duì)所需要測算的失效衛(wèi)星形態(tài)參數(shù)進(jìn)行測算。所采用的自適應(yīng)卡爾曼濾波器的觀測量是用現(xiàn)有的觀測技術(shù)獲得的帶有噪聲的失效衛(wèi)星姿態(tài)四元數(shù)以及相對(duì)距離的測量值。采用基于新息的自適應(yīng)濾波測算算法能夠處理在形態(tài)參數(shù)測算過程中出現(xiàn)的不確定性環(huán)境以及測量誤差所帶來的形態(tài)參數(shù)錯(cuò)誤估計(jì)等問題,從而獲得對(duì)失效衛(wèi)星準(zhǔn)確的形態(tài)參數(shù)測算。
本發(fā)明公開了一種多失效模式系統(tǒng)故障預(yù)測方法,方法采用隨機(jī)濾波技術(shù),以多失效模式與測量參數(shù)的關(guān)聯(lián)關(guān)系為紐帶,通過數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的方法完成多失效模式系統(tǒng)的故障預(yù)測:通過算法完成實(shí)時(shí)測量參數(shù)的濾波估計(jì),相比采用系統(tǒng)原理的方法,提高了實(shí)際工作情況的針對(duì)性,增加了現(xiàn)場信息的利用率和預(yù)測結(jié)果的真實(shí)性;利用失效模式與測量參數(shù)的關(guān)聯(lián)矩陣,解決了復(fù)雜系統(tǒng)多失效模式預(yù)測方法面對(duì)交聯(lián)眾多、強(qiáng)耦合的復(fù)雜系統(tǒng)效率低下的難題,利用系統(tǒng)原理信息完成了特定失效模式的定位。多失效模式系統(tǒng)故障預(yù)測方法兼顧了實(shí)際數(shù)據(jù)信息和系統(tǒng)原理信息,避免單獨(dú)使用數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)或系統(tǒng)原理方法的不足,有效提高了多失效模式下故障預(yù)測的定位能力。
本發(fā)明公開了一種電動(dòng)汽車電機(jī)制動(dòng)時(shí)失效監(jiān)測裝置,包括數(shù)據(jù)采集電路,故障監(jiān)測電路和故障處理電路;所述數(shù)據(jù)采集電路包括電流傳感器和制動(dòng)壓力開關(guān);所述故障檢測電路包括運(yùn)算放大器U2A、電壓比較器U5A、與門U3、計(jì)數(shù)器U4、555定時(shí)器A1和D觸發(fā)器U1B;所述故障處理電路包括光電耦合器U6、三極管Q1、繼電器和發(fā)光二極管D1組成;本發(fā)明可以同時(shí)考慮車輛狀態(tài)與電機(jī)狀態(tài),對(duì)電機(jī)失效做出準(zhǔn)確,迅速的響應(yīng)。本發(fā)明主要部件采用純硬件電路、設(shè)計(jì)簡單、可靠性高,安裝要求低,而且不需要對(duì)車輛進(jìn)行過多改裝,同時(shí)由于故障響應(yīng)閾值可手動(dòng)調(diào)節(jié),提高的裝置的可替換性。
本實(shí)用新型公開了一種螺桿外螺紋失效強(qiáng)度測試用夾緊裝置,包括T形拉桿一、T形拉桿二、固定座一、固定座二、絲母一和絲母二;所述T形拉桿一下端設(shè)置有固定座一,所述固定座一下側(cè)內(nèi)部通過螺紋固定安裝有帶螺紋孔的絲母一,所述T形拉桿二上端設(shè)置有固定座二,所述固定座二上側(cè)內(nèi)部通過螺紋固定安裝有帶光孔的絲母二,所述螺桿穿過所述光孔后與所述螺紋孔固定連接,所述T形拉桿一上端與檢測機(jī)上夾持座固定連接,所述T形拉桿二下端與檢測機(jī)下夾持座固定連接。本實(shí)用新型具有以下特點(diǎn):與普通萬能材料試驗(yàn)機(jī)配套使用即可檢測標(biāo)準(zhǔn)螺桿的失效強(qiáng)度,裝夾靈活方便,可換性好,操作使用過程安全可靠。
本發(fā)明公開了一種軸承精度性能測試裝置及測試方法和確定軸承精度早期失效部件的方法,包括分別安裝在兩個(gè)機(jī)架上的主軸和伺服電機(jī);主軸外面套設(shè)有主軸殼體,主軸通過主軸殼體固定在機(jī)架上;主軸的后端與伺服電機(jī)的輸出軸固定連接;主軸殼體與被測軸承相配合的面上開設(shè)有用于安裝加速度傳感器和溫度傳感器的徑向通孔;主軸前端伸出主軸殼體的部分安裝有用來測量主軸前端徑向跳動(dòng)的位移傳感器。本發(fā)明將主軸和伺服電機(jī)分別固定于兩個(gè)機(jī)架上,減少伺服電機(jī)的振動(dòng)對(duì)主軸的影響;主軸的后端采用一對(duì)精密角接觸球軸承支撐,提高主軸的旋轉(zhuǎn)精度和剛度,并安裝有定壓預(yù)緊裝置,能夠按照試驗(yàn)要求更改所用彈簧的種類和數(shù)量,實(shí)現(xiàn)對(duì)被測軸承的定壓預(yù)緊。
一種基于量子點(diǎn)氣敏傳感器的軸承潤滑脂失效監(jiān)測方法,包括以下步驟:一、將量子點(diǎn)氣敏傳感器固定在軸承外圈的內(nèi)表面非接觸區(qū)域;并與電阻測試儀連接構(gòu)成氣體檢測裝置;二、在初始裝填潤滑脂后,記錄在空氣環(huán)境中(即無特定敏感氣體條件下)氣敏傳感器的電阻值作為基準(zhǔn)電阻值;三、在軸承運(yùn)行時(shí),實(shí)時(shí)監(jiān)測量子點(diǎn)氣敏傳感器的電阻變化,若電阻值偏離基準(zhǔn)值,表明潤滑脂局部高溫氧化失效;量子點(diǎn)氣敏傳感器體積小、質(zhì)量輕,且便于安裝在軸承中,不影響軸承運(yùn)行狀態(tài),本發(fā)明利用量子點(diǎn)氣敏傳感器的特點(diǎn)來檢測軸承潤滑脂失效時(shí)產(chǎn)生的氣體,從而實(shí)現(xiàn)在線監(jiān)測潤滑脂失效。
本發(fā)明公開了一種力/熱/電/磁多場耦合下測試金屬薄膜失效行為的裝置,內(nèi)嵌電阻絲的加熱臺(tái)置于隔熱臺(tái)上方,加熱臺(tái)連接有電源,隔熱臺(tái)兩端設(shè)置有對(duì)流循環(huán)冷卻水;被測金屬薄膜置于加熱臺(tái)上面,并在試樣表面設(shè)置熱電偶,納米壓入傳動(dòng)裝置連接傳送桿,納米壓入傳送裝置和被測金屬薄膜之間的傳送桿兩側(cè)分別安置隔熱擋板,每塊隔熱擋板兩側(cè)設(shè)置循環(huán)冷卻水,磁極置于隔熱臺(tái)兩側(cè)。本發(fā)明提高集成電路電子薄膜材料失效的預(yù)測與評(píng)價(jià)水平,操作簡單,可較真實(shí)檢測反映實(shí)際服役條件下微器件的失效性能。
本發(fā)明屬于可靠性工程技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種融合失效壽命數(shù)據(jù)的剩余壽命預(yù)測方法。該方法包括以下步驟:步驟1:建立不完美先驗(yàn)信息條件下的設(shè)備性能退化模型;步驟2:估計(jì)離線參數(shù);步驟3:在線更新參數(shù);步驟4:預(yù)測剩余壽命。本發(fā)明給出了一種融合失效壽命數(shù)據(jù)的剩余壽命預(yù)測方法,同時(shí)考慮了單元間可變性和測量誤差的影響,不僅可以對(duì)設(shè)備的個(gè)體壽命和總體可靠性壽命特征量進(jìn)行預(yù)測分析,還可以作為預(yù)測設(shè)備剩余壽命的一種有效分析工具,為設(shè)備基于狀態(tài)的維修保障提供有力的理論依據(jù)和技術(shù)支撐,從而節(jié)約經(jīng)費(fèi)開支,避免不必要的經(jīng)濟(jì)損失,有很好的工程應(yīng)用價(jià)值。
本發(fā)明涉及一種對(duì)存在競爭失效條件下的高可靠性設(shè)備進(jìn)行剩余壽命預(yù)測的方法。將造成其失效的故障模式看成兩種模式的組合:第一種是緩變故障模式,用帶漂移的維納模型進(jìn)行描述;第二種是突變故障模式,用泊松過程進(jìn)行描述;設(shè)這兩種故障模式相互獨(dú)立,分別獲得這兩種故障模式下的剩余壽命以后,就可以得到設(shè)備的剩余壽命;具體包括:構(gòu)建動(dòng)態(tài)性能退化數(shù)據(jù)庫;建立存在競爭失效條件下的設(shè)備性能退化模型;模型參數(shù)估計(jì);剩余壽命預(yù)測。本發(fā)明預(yù)測設(shè)備剩余壽命的方法,可以對(duì)設(shè)備的個(gè)體壽命特征量進(jìn)行預(yù)測分析,為設(shè)備的維修保障提供有力的理論依據(jù)和技術(shù)支撐,具有很好的工程應(yīng)用前景。
本發(fā)明公開了一種用于高溫芯軸試驗(yàn)的包殼破裂失效實(shí)時(shí)監(jiān)測系統(tǒng),包括高純氬氣罐,爐體,爐體頂部的柱形腔室,連接柱形腔室上壁面的氣壓表,連接爐體側(cè)壁面的氣壓表,連接柱形腔室與氬氣罐的氬氣進(jìn)口管及減壓閥,連接爐體側(cè)壁面的空氣進(jìn)口管及減壓閥,連接爐體底部和氧分析儀的氣體出口管,還包括爐體內(nèi)部的密封蓋及密封底座,密封蓋和密封底座之間的芯軸試驗(yàn)段,插入芯軸試驗(yàn)段內(nèi)部的柱塞;利用爐體加熱,實(shí)現(xiàn)芯軸試驗(yàn)段的溫度控制;利用芯軸試驗(yàn)段兩側(cè)的密封蓋和密封底座,實(shí)現(xiàn)芯軸試驗(yàn)段內(nèi)外表面的氣體隔離;通過控制減壓閥實(shí)現(xiàn)芯軸試驗(yàn)段外表面氣壓大于內(nèi)表面氣壓;利用氣體流經(jīng)密封底座并通入氧分析儀,實(shí)現(xiàn)對(duì)包殼破裂失效的實(shí)時(shí)監(jiān)測。
本公開涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種目標(biāo)跟蹤失效重檢方法及裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)、電子設(shè)備。該目標(biāo)跟蹤失效重檢方法可以包括:獲取當(dāng)前幀圖像,并判斷跟蹤目標(biāo)是否丟失;在判斷跟蹤目標(biāo)丟失時(shí),在當(dāng)前幀圖像中以跟蹤目標(biāo)在上一幀圖像中的坐標(biāo)為中心,在預(yù)設(shè)區(qū)域中獲取第一候選樣本;計(jì)算各第一候選樣本的局部對(duì)比度,并從第一候選樣本中去除局部對(duì)比度小于一第一局部對(duì)比度閾值的第一候選樣本,以得到第二候選樣本;計(jì)算各第二候選樣本的最近鄰相似度,并將最近鄰相似度大于最近鄰相似度閾值的第二候選樣本確定為跟蹤目標(biāo)。本公開減少了系統(tǒng)的計(jì)算工作量,提高了跟蹤目標(biāo)的重檢準(zhǔn)確率以及跟蹤目標(biāo)的重檢效率。
本發(fā)明涉及一種基于退化建模的設(shè)備失效次數(shù)預(yù)測方法。充分利用產(chǎn)品在性能變化過程中獲取的性能退化數(shù)據(jù),預(yù)測高可靠性產(chǎn)品個(gè)體剩余壽命;確定設(shè)備失效次數(shù);通過預(yù)測設(shè)備失效次數(shù),優(yōu)化備件管理。包括:建立設(shè)備的性能退化模型;性能退化模型中參數(shù)的估計(jì);剩余壽命預(yù)測;設(shè)備失效次數(shù)的預(yù)測四大步驟。同現(xiàn)有技術(shù)相比,不僅可以對(duì)產(chǎn)品的個(gè)體剩余壽命和總體可靠性壽命的特征量進(jìn)行預(yù)測分析,還可以作為預(yù)測產(chǎn)品剩余壽命與失效次數(shù)的一種有效分析工具,為產(chǎn)品的維修與備件訂購策略的確定提供有力的理論依據(jù)和技術(shù)支撐,從而節(jié)約經(jīng)費(fèi)開支,避免不必要的經(jīng)濟(jì)損失,具有很好的工程應(yīng)用價(jià)值。
本發(fā)明公開了一種發(fā)電廠低電導(dǎo)率水pH電極失效檢驗(yàn)系統(tǒng)及方法,包括標(biāo)準(zhǔn)pH表、在線pH表、可調(diào)微量泵、標(biāo)準(zhǔn)溶液瓶和除鹽水管路;采用動(dòng)態(tài)在線檢驗(yàn)的方式;標(biāo)準(zhǔn)pH表的二次儀表和在線pH表的二次儀表的斜率均設(shè)置為100%或59.16mV/pH,這樣在線pH電極性能與標(biāo)準(zhǔn)pH電極性能在同一條件下比對(duì)。通過可調(diào)微量泵將標(biāo)準(zhǔn)溶液瓶中設(shè)定濃度的氨水溶液加入到除鹽水中,多次調(diào)節(jié)可調(diào)微量泵功率得到多個(gè)不同pH值的低電導(dǎo)率水樣,且這些pH值形成的范圍大于在線水樣的pH值控制范圍,使水樣同時(shí)經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)pH表電極和在線pH表電極,分別計(jì)算不同水樣下在線pH電極的電極誤差,如果有一組誤差絕對(duì)值大于0.05,就可判定在線pH電極處于失效狀態(tài)。
一種基于現(xiàn)場狀態(tài)檢驗(yàn)參數(shù)的鍋爐“四管”失效評(píng)估方法,明確評(píng)估對(duì)象及評(píng)估點(diǎn)的基本信息及其所處的壽命周期階段,計(jì)算相應(yīng)壽命周期階段對(duì)應(yīng)的失效概率因子,并根據(jù)檢驗(yàn)方案獲取現(xiàn)場狀態(tài)檢驗(yàn)參數(shù),先計(jì)算各參數(shù)引起的失效概率,并以此為基礎(chǔ)評(píng)估各評(píng)估點(diǎn)的失效概率,最終進(jìn)行部件的失效概率評(píng)估;本發(fā)明無需評(píng)估人員具有豐富的壽命評(píng)估知識(shí)及經(jīng)驗(yàn),也無需承擔(dān)額外的試驗(yàn)費(fèi)用成本,僅通過獲得鍋爐“四管”的現(xiàn)場狀態(tài)檢驗(yàn)參數(shù),便可進(jìn)行失效概率評(píng)估,從而直接幫助火電廠技術(shù)人員制定檢修更換策略。
本發(fā)明公開了一種預(yù)報(bào)集成電路靜電放電失效的測試電路及預(yù)測方法。其利用失效測試電容(8,9)在ESD應(yīng)力作用下的退化衡量集成電路中MOS器件在ESD應(yīng)力下的衰退;利用二極管(3,4)組成的靜電放電應(yīng)力耦合電路將ESD保護(hù)電路未瀉放掉的ESD應(yīng)力耦合到失效測試電容(8,9)上;同時(shí),應(yīng)力及延遲控制器電路檢測到ESD應(yīng)力后產(chǎn)生控制信號(hào)并傳輸給應(yīng)力控制電路(12),開啟由二極管(5,6),開關(guān)電路(11)以及升壓電容(10)構(gòu)成升壓電路并產(chǎn)生高應(yīng)力電壓,使失效測試電容(8,9)加速衰退,如果失效測試電容(8,9)失效,比較器(14)將輸出一個(gè)失效信號(hào),預(yù)示著集成電路即將實(shí)效,實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)預(yù)報(bào)。本發(fā)明可用于對(duì)集成電路靜電放電失效的預(yù)報(bào)。
本發(fā)明提供了基于電流特征的離合器失效檢測方法、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì),對(duì)被測電機(jī)進(jìn)行電流檢測,通過利用霍爾電流傳感器對(duì)被測電機(jī)進(jìn)行電流檢測,并輸出電壓信號(hào),通過數(shù)據(jù)采集裝置對(duì)所輸出的電壓信號(hào)進(jìn)行采集并輸入至控制器內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理;將電機(jī)電流特征與離合器制動(dòng)性能進(jìn)行特征關(guān)聯(lián),在控制器的數(shù)據(jù)處理中通過波形擬合算法,得到離合器制動(dòng)性能數(shù)據(jù)。通過檢測電機(jī)電流的方式獲取離合器制動(dòng)性能,實(shí)現(xiàn)了離合器制動(dòng)效果的在線檢測,在通過檢測電機(jī)電流中通過控制器的數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)了利用電機(jī)電流獲取棘輪傳動(dòng)齒數(shù),通過檢測電機(jī)電流實(shí)現(xiàn)了電機(jī)電流反應(yīng)棘輪的受力狀況,有效反應(yīng)出大小棘爪的受力特征,最后可以有效監(jiān)控棘輪棘爪轉(zhuǎn)動(dòng)的異常情況。
本發(fā)明公開了一種模擬鏈路硬件失效檢測電路及方法,包括加法器、第一低通濾波器、采樣保持電路、多路復(fù)用器、A/D轉(zhuǎn)換電路、DSP芯片、CPU、以及信號(hào)發(fā)生器;加法器的輸入端與互感器的四路輸出端相連接,加法器的輸出端與第一低通濾波器的輸入端相連接,采樣保持電路輸入端分別與信號(hào)發(fā)生器的輸出端、第一低通濾波器的輸出端及互感器的輸出端相連接,采樣保持電路的輸出端與多路復(fù)用器的輸入端相連接,多路復(fù)用器的輸出端與DSP芯片的輸入端相連接,DSP芯片的輸出端與CPU8的輸入端、多路復(fù)用器的控制端、信號(hào)發(fā)生器的控制端及被檢測電網(wǎng)的控制端相連接。該電路及方法避免硬件故障導(dǎo)致的誤判,保證電網(wǎng)可靠運(yùn)行。
本發(fā)明提供一種操作簡單、快速的負(fù)壓收塵布袋失效快速檢測法,它包括如下步驟:(1)在兩個(gè)鋼化玻璃的內(nèi)表面分別設(shè)置顯影涂層;(2)測定鋼化玻璃及顯影涂層總重量G1;(3)將濾袋置于兩個(gè)鋼化玻璃之間并通過兩個(gè)鋼化玻璃夾緊;(4)靜置1?3小時(shí);(5)再次測量鋼化玻璃及顯影涂層總重量G2;(6)判斷G2與G1之間關(guān)系,G2大于G1時(shí)判斷為失效,G2小于等于G1時(shí)為有效。
本發(fā)明公開了一種IGBT模塊早期失效檢測方法,包括:對(duì)IGBT模塊進(jìn)行高溫阻斷檢測,如果不滿足第一條件,則判定為早期失效,其中,所述第一條件是指:10~50分鐘的檢測時(shí)間內(nèi),IGBT模塊的阻斷漏電流小于100mA,變化率小于100%。由于檢測的時(shí)間只有10~50分鐘,檢測周期大大縮短,所以在生產(chǎn)過程中可以實(shí)現(xiàn)對(duì)所有的IGBT模塊進(jìn)行檢測,同時(shí),檢測過的IGBT模塊可以繼續(xù)使用,進(jìn)而大大降低了成本。
本發(fā)明公開了一種鈦鎳鐵記憶合金接頭低溫失效檢測裝置,涉及航空檢測技術(shù)領(lǐng)域。鈦鎳鐵記憶合金接頭低溫失效檢測裝置,包含管路、外套管及堵頭。其中,被測記憶合金接頭套設(shè)在管路的外圓上;外套管中心設(shè)置有外套管通孔,套管及記憶合金接頭安裝在外套管的外套管通孔內(nèi),外套管的管壁上設(shè)置有觀察孔,觀察孔連通外套管的外部及其中心設(shè)置外套管通孔;堵頭設(shè)置有兩件,分別與管路及外套管的兩端連接。本發(fā)明的有益之處在于:所述鈦鎳鐵記憶合金接頭低溫失效檢測裝置制造工藝簡單,部分零件采用被檢測件成品,零件失效與否可以和產(chǎn)品保持一致,該檢測裝置沒有使用其它化學(xué)原料,對(duì)液氮保存環(huán)境無污染,使用簡單方便,可以直觀的看到產(chǎn)品是否失效。
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